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高过载测试中的电子线路灌封技术研究 被引量:9
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作者 吕彩琴 翟成瑞 《机械工程与自动化》 2009年第5期90-91,94,共3页
在高过载测试中,测试电路的灌封是一道关键的工艺,选用缓冲吸能效果好的灌封材料,采用合适的灌封工艺,是提高测试电路在高冲击和振动环境下工作可靠性的有效方法。从灌封材料的吸能机理、灌封材料固化应力产生机理等角度出发,论述了在... 在高过载测试中,测试电路的灌封是一道关键的工艺,选用缓冲吸能效果好的灌封材料,采用合适的灌封工艺,是提高测试电路在高冲击和振动环境下工作可靠性的有效方法。从灌封材料的吸能机理、灌封材料固化应力产生机理等角度出发,论述了在进行灌封电路过程中需要注意的问题,确保灌封电路的整体性能和抗高过载性能。 展开更多
关键词 高过载 电子系统封装 封装应力 缓冲吸能
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电子系统封装器件的传热研究
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作者 李长庚 周孑民 张家元 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2003年第7期17-19,共3页
开发了一个电子系统封装(SIP)典型器件的传热模型,用数值方法模拟了器件的热传递过程和温度分布状况,探讨了各种设计参数和物性参数对温度场的影响。计算结果表明:当t = 1 400 s,以LCP为基板时SIP器件传热过程达到稳定态,基板导热系数... 开发了一个电子系统封装(SIP)典型器件的传热模型,用数值方法模拟了器件的热传递过程和温度分布状况,探讨了各种设计参数和物性参数对温度场的影响。计算结果表明:当t = 1 400 s,以LCP为基板时SIP器件传热过程达到稳定态,基板导热系数和对流换热系数是影响器件散热速率的关键参数,此外还计算了对于不同的环境对流换热系数和不同基板材料,不使芯片产生热失效所允许的输入功率耗散密度。这为研究高密度电子封装器件的热特性,进一步改善器件的热性能提供了理论依据。 展开更多
关键词 电子系统封装 热性能 热传递
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用于三维封装的铜-铜低温键合技术进展 被引量:5
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作者 李科成 刘孝刚 陈明祥 《电子元件与材料》 CAS CSCD 2015年第1期9-14,共6页
在三维系统封装技术中,金属热压键合是实现多层芯片堆叠和垂直互连的关键技术。为了解决热压键合产生的高温带来的不利影响,工业界和各大科研机构相继开发出了多种低温键合技术。综述了多种不同的低温金属键合技术(主要是Cu-Cu键合),重... 在三维系统封装技术中,金属热压键合是实现多层芯片堆叠和垂直互连的关键技术。为了解决热压键合产生的高温带来的不利影响,工业界和各大科研机构相继开发出了多种低温键合技术。综述了多种不同的低温金属键合技术(主要是Cu-Cu键合),重点阐述了国内外低温金属键合技术的最新研究进展及成果,并对不同低温金属键合技术的优缺点进行了分析和比较。 展开更多
关键词 三维封装 热压键合 综述 低温键合 电子封装 异质集成 系统封装
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