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基于故障仿真分析的高压直流断路器测试要求的确定方法 被引量：37
1
作者 吴思源 柯飒 +6 位作者 李婉卿 王飞 廖晓娇 胡小青 谢嘉晟 李中波 严星 《智慧电力》 北大核心 2019年第4期53-58,共6页
开发快速、低损耗和可靠的高压直流断路器对直流保护具有重要意义,合适的测试要求是检验直流断路器性能的重要依据。由于直流系统电流没有自然过零点,并且感性元件储存着巨大的能量,使高压直流断路器的测试与交流断路器的测试有着本质... 开发快速、低损耗和可靠的高压直流断路器对直流保护具有重要意义,合适的测试要求是检验直流断路器性能的重要依据。由于直流系统电流没有自然过零点,并且感性元件储存着巨大的能量,使高压直流断路器的测试与交流断路器的测试有着本质的区别。通过对多端高压直流电网中故障电流的详细分析,确定了接地故障发生后的3个阶段,即子模块电容放电阶段、臂电流衰减阶段、交流馈电阶段,讨论了各阶段对故障电流影响较大的关键参数。通过仿真,研究了连接到直流母线的线路数量和故障位置等参数对高压直流电网的影响,为高压直流断路器测试要求的确定提供了依据。 展开更多
关键词 高压直流断路器 多端高压直流网络 测试电路 测试要求
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FAN算法在瞬态电流测试产生中的应用 被引量：8
2
作者 魏小芬 邝继顺 《同济大学学报（自然科学版）》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第10期1239-1243,共5页
在不考虑冒险的情况下 ,对于CMOS电路中的开路故障 ,探讨了利用FAN算法进行瞬态电流测试产生的可能性 .定义了三种不同的D前沿 ,并将测试产生分为激活故障、使无故障电路和故障电路的瞬态电流差别最大化、减少旁路的影响三个部分 .实验... 在不考虑冒险的情况下 ,对于CMOS电路中的开路故障 ,探讨了利用FAN算法进行瞬态电流测试产生的可能性 .定义了三种不同的D前沿 ,并将测试产生分为激活故障、使无故障电路和故障电路的瞬态电流差别最大化、减少旁路的影响三个部分 .实验结果说明 ,在不考虑冒险的情况下 ,将FAN算法应用于瞬态电流测试产生是可行的 . 展开更多
关键词 CMOS电路 开路故障 测试产生 瞬态电流测试 D前沿 数字集成电路 FAN算法
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基于改进粒子群算法的模拟电路测试点选择 被引量：11
3
作者 张超杰 贺国 +1 位作者 梁述海 陈国钧 《华中科技大学学报（自然科学版）》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第11期31-34,共4页
针对模拟电路测试点选择的特点,对粒子群算法进行改进,提出利用粒子群算法与整数编码故障字典相结合的方法进行测试点选择,给出了该算法的模型和应用于模拟电路测试点选择的一般规律.首先根据各测试点的数据建立整数编码故障字典,然后... 针对模拟电路测试点选择的特点,对粒子群算法进行改进,提出利用粒子群算法与整数编码故障字典相结合的方法进行测试点选择,给出了该算法的模型和应用于模拟电路测试点选择的一般规律.首先根据各测试点的数据建立整数编码故障字典,然后利用改进的粒子群算法选取最优测试点.将该方法应用于实际模拟滤波器的测试点选择,并通过统计实验的方法与已有的测试点选择方法进行比较,结果表明:利用该方法很容易求出模拟电路的全局最优测试点,且需要设置的参数较少. 展开更多
关键词 模拟电路 故障诊断 粒子群优化算法 测试点 故障字典
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110kV GIS电磁式电压互感器三倍频感应耐压试验 被引量：10
4
作者 肖勇 潘翀 +2 位作者 杨帆 罗绪东 蔡川 《电力自动化设备》 EI CSCD 北大核心 2011年第11期139-142,共4页
为了发现气体绝缘的全封闭组合电器(GIS)中电磁式电压互感器(EVT)的某些绝缘缺陷,需要进行交流耐压试验。提出了110 kV GIS中EVT通过三倍频感应耐压的2种现场试验方法、试验接线及操作步骤,第1种感应耐压方案为EVT的二次绕组端子上的加... 为了发现气体绝缘的全封闭组合电器(GIS)中电磁式电压互感器(EVT)的某些绝缘缺陷,需要进行交流耐压试验。提出了110 kV GIS中EVT通过三倍频感应耐压的2种现场试验方法、试验接线及操作步骤,第1种感应耐压方案为EVT的二次绕组端子上的加压侧与补偿侧不同,第2种感应耐压方案为加压侧与补偿侧并联。通过计算,分析了试验中出现容升电压的原因及影响、空载试验的必要性及耐压时间的选定,比较了采用2种不同补偿方式的差异。现场试验结果表明EVT三倍频感应耐压时一次侧电流、二次侧电流与补偿电抗量的规律,说明第1种感应耐压方案较适用于GIS中EVT的感应耐压。 展开更多
关键词 110kV 全封闭组合电器 电磁式电压互感器 互感器 等值电路 绝缘 试验
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单粒子效应激光模拟试验技术研究 被引量：8
5
作者 曹洲 薛玉雄 +1 位作者 杨世宇 达道安 《真空与低温》 2006年第3期166-172,175,共8页
介绍了一种新的单粒子效应模拟试验技术——脉冲激光模拟试验方法。对脉冲激光束进行单粒子效应试验研究的基本机理进行了分析讨论。总结分析了电子器件及集成电路单粒子效应激光模拟试验研究结果,给出了单粒子效应脉冲激光模拟试验的... 介绍了一种新的单粒子效应模拟试验技术——脉冲激光模拟试验方法。对脉冲激光束进行单粒子效应试验研究的基本机理进行了分析讨论。总结分析了电子器件及集成电路单粒子效应激光模拟试验研究结果,给出了单粒子效应脉冲激光模拟试验的一般评估方法,并对采用脉冲激光模拟单粒子翻转试验获得的试验数据与重离子试验数据的等效性进行了比对分析。结果表明,激光模拟试验得出的LET阈值大小与重离子试验结果基本一致。 展开更多
关键词 单粒子效应 脉冲激光 集成电路 试验方法
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舰载雷达电路测试诊断系统的设计与应用 被引量：9
6
作者 周沫 《电子测量技术》 2007年第9期157-159,共3页
微电子技术和计算机技术在雷达中的广泛应用,使雷达的结构和功能日益复杂,集成化和数字化程度越来越高,但同时也对设备维修保障工作提出了更高的要求。本文设计了一种舰载雷达电路测试诊断系统。该系统采用多通道数字激励信号产生、DDS... 微电子技术和计算机技术在雷达中的广泛应用,使雷达的结构和功能日益复杂,集成化和数字化程度越来越高,但同时也对设备维修保障工作提出了更高的要求。本文设计了一种舰载雷达电路测试诊断系统。该系统采用多通道数字激励信号产生、DDS模拟激励信号产生等新技术,通过电路节点关联分析、对比测试等方法,实现了舰载雷达数字、模拟部件的通电检测和故障诊断。该系统具有造价低、使用方便等特点,具有较好的推广应用前景。 展开更多
关键词 舰载雷达 电路测试 故障诊断
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数字电路的测试生成方法 被引量：2
7
作者 潘中良 张光昭 《中山大学学报论丛》 1997年第5期148-151,共4页
随着集成电路设计及工艺技术的发展，电路的测试已成为集成电路设计与生产的重要组成部分．讨论了电路的测试及故障检测中的一些问题，对数字电路测试生成的主要算法的性能进行了详细分析。
关键词 数字电路 故障检测 测试生成 算法性能分析
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电路测试神经网络方法中求多个测试矢量 被引量：7
8
作者 潘中良 张光昭 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2000年第3期25-28,共4页
文章研究在数字电路测试的神经网络方法中求给定故障对应的多个测试矢量的方法 ,首先提出了一种求多个测试矢量的遗传进化方法 ,然后提出了一种矢量扰动方法 ,通过这两者的结合使用 ,能获得被测电路较小的完备测试集 ,从而提高了电路测... 文章研究在数字电路测试的神经网络方法中求给定故障对应的多个测试矢量的方法 ,首先提出了一种求多个测试矢量的遗传进化方法 ,然后提出了一种矢量扰动方法 ,通过这两者的结合使用 ,能获得被测电路较小的完备测试集 ,从而提高了电路测试神经网络方法的性能。 展开更多
关键词 数字电路 神经网络 进化算法 电路测试 测试矢量
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数字电路多故障测试生成的神经网络方法研究 被引量：4
9
作者 潘中良 张光昭 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第3期232-234,共3页
本文深入研究基于Ｈｏｐｆｉｅｌｄ神经网络的数字电路多故障测试生成方法，该方法利用电路基本逻辑门和Ｈｏｐｆｉｅｌｄ网络的特性，建立多故障测试生成的神经网络模型，通过求解网络能量函数的最小值点获得给定多故障的测试矢量。文... 本文深入研究基于Ｈｏｐｆｉｅｌｄ神经网络的数字电路多故障测试生成方法，该方法利用电路基本逻辑门和Ｈｏｐｆｉｅｌｄ网络的特性，建立多故障测试生成的神经网络模型，通过求解网络能量函数的最小值点获得给定多故障的测试矢量。文中提出了加速测试生成的技术策略，为多故障的测试提供了一种可能的新途径。 展开更多
关键词 数字电路 多故障 测试生成 神经网络
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基于功率MOS管的板级干扰器设计
10
作者 金大君 林喏 粟涛 《电子器件》 CAS 2024年第1期26-30,共5页
为了解决集成电路抗扰性测试设备占据空间大、存在外部电路元件击穿等安全隐患问题,提出了一种可以对集成电路芯片源端电压进行周期性扰动的板级干扰器。该干扰器以低阻抗MOS管与肖特基二极管串联结构作为输出驱动,通过FPGA来周期性控制... 为了解决集成电路抗扰性测试设备占据空间大、存在外部电路元件击穿等安全隐患问题,提出了一种可以对集成电路芯片源端电压进行周期性扰动的板级干扰器。该干扰器以低阻抗MOS管与肖特基二极管串联结构作为输出驱动,通过FPGA来周期性控制MOS管开关,根据相位累加的原理合成出干扰电源信号,且能通过改变FPGA输出频率和反馈电阻大小来实现干扰电源信号频率与幅度的调节。将干扰器接入负载电路进行测试,结果表明:干扰器在1 MHz~10 MHz与60 MHz~100 MHz频段,对3Ω,50 pF负载的电源端扰动幅值达到0.6 V以上,驱动能力理想。因此该干扰器适合作为干扰信号源应用于实际的芯片电源端在1 MHz~10 MHz与60 MHz~100 MHz频段的电磁干扰测试实验;相比较于现有的设备,其具有结构简单、低功耗、大驱动、成本低、安全方便等优点。 展开更多
关键词 集成电路 电磁干扰 测试设备 干扰信号源 大驱动
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可演化组合逻辑数字电路的静电放电抗扰特性 被引量：5
11
作者 满梦华 刘尚合 +2 位作者 常小龙 巨政权 褚杰 《高电压技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第9期2322-2328,共7页
为研究可演化组合逻辑电路对静电放电的抗扰特性,提出了一种基于Cartesian模型和虚拟重配置技术的可演化组合电路系统模型,按照静电放电抗扰度测试标准IEC 61000-4-2分析了电路逻辑功能的受扰规律,归纳为单极性逻辑翻转和瞬态逻辑击穿2... 为研究可演化组合逻辑电路对静电放电的抗扰特性,提出了一种基于Cartesian模型和虚拟重配置技术的可演化组合电路系统模型,按照静电放电抗扰度测试标准IEC 61000-4-2分析了电路逻辑功能的受扰规律,归纳为单极性逻辑翻转和瞬态逻辑击穿2种故障模型。利用故障注入的方法模拟静电放电干扰环境,在故障节点比例逐渐增加的条件下进行了功能电路的演化设计试验。结果表明:当静电干扰事件较少时,演化电路可以快速稳定的演化生成功能完备的数字电路;当静电干扰事件频发且造成大量逻辑单元受扰时,其仍能演化生成适应度达0.9的功能电路。因此,可演化组合逻辑电路在逐渐恶劣的静电放电干扰环境下表现出高可靠的抗扰特性。 展开更多
关键词 电磁防护 电磁防护仿生 静电放电 可演化数字电路 组合逻辑电路 抗扰度测试
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一种数字电路的测试向量生成算法 被引量：5
12
作者 何华锋 胡昌华 +1 位作者 许化龙 张伟 《系统工程与电子技术》 EI CSCD 北大核心 2002年第6期95-98,共4页
结合一个实际电路 ,研究了一种可把数字电路故障定位到器件级的测试向量生成算法。该算法首先划分电路功能块 ,然后基于功能测试的思想 ,通过功能块测试向量的迭代生成整个电路的测试向量。还提出了一种基于器件布尔函数建立故障字典的... 结合一个实际电路 ,研究了一种可把数字电路故障定位到器件级的测试向量生成算法。该算法首先划分电路功能块 ,然后基于功能测试的思想 ,通过功能块测试向量的迭代生成整个电路的测试向量。还提出了一种基于器件布尔函数建立故障字典的方法 ,这种方法思路清楚 ,软件编程实现方便。 展开更多
关键词 数字电路 测试向量 故障字典 测试生成算法
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组合电路伪穷举测试的一种生成算法 被引量：5
13
作者 郑光华 《哈尔滨船舶工程学院学报》 EI CAS CSCD 1989年第2期205-216,共12页
提出一种基于电路结构的伪穷举测试生成算法,通过对待测电路的逐步二块划分和对各个子电路的穷举测试,形成待测电路的伪穷举测试集.本算法从实际应用出发,基于电路结构进行选优划分,算法简单,运行速度快.通过这一算法,伪穷举测试能够实... 提出一种基于电路结构的伪穷举测试生成算法,通过对待测电路的逐步二块划分和对各个子电路的穷举测试,形成待测电路的伪穷举测试集.本算法从实际应用出发,基于电路结构进行选优划分,算法简单,运行速度快.通过这一算法,伪穷举测试能够实现机器自动生成,并充分发挥了伪穷举测试的各项优点,因此具有一定的实用价值. 展开更多
关键词 组合电路 穷举测试 测试 生成
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基于ATE的SerDes功能测试技术研究
14
作者 冉翠翠 王天元 《电子质量》 2023年第9期38-41,共4页
随着半导体行业的发展,特别是传输接口的发展,人们对传输速度的要求越来越高,串化器/解串器(SerDes)技术正在取代传统的并行传输成为新型的高速串口接口的主流。SerDes高速串行接口电路接口复杂,性能要求严格,为保证电路正常生产测试,对... 随着半导体行业的发展,特别是传输接口的发展,人们对传输速度的要求越来越高,串化器/解串器(SerDes)技术正在取代传统的并行传输成为新型的高速串口接口的主流。SerDes高速串行接口电路接口复杂,性能要求严格,为保证电路正常生产测试,对SerDes电路功能测试技术研究非常必要。基于ATE测试机台,重点针对SerDes类型电路的功能测试方法进行了研究。 展开更多
关键词 SerDes电路 自动测试设备 测试
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一种适用于集成电路筛选密封试验工装的设计
15
作者 韦艳妮 石文博 马源君 《电子产品可靠性与环境试验》 2023年第5期87-91,共5页
随着集成电路的国产化,国内集成电路筛选检测业务量也不断增大。密封试验是具有内空腔的金属陶瓷封装集成电路产品筛选检测项目中重要的项目之一。传统的密封试验工装夹具无法实现大批量集成电路的筛选密封试验的要求。基于以上问题,设... 随着集成电路的国产化,国内集成电路筛选检测业务量也不断增大。密封试验是具有内空腔的金属陶瓷封装集成电路产品筛选检测项目中重要的项目之一。传统的密封试验工装夹具无法实现大批量集成电路的筛选密封试验的要求。基于以上问题,设计了一款适用于多种封装形式的集成电路筛选密封试验的工装夹具。该款新型封试验工装夹具大大地提高了筛选密封试验的检测效率。 展开更多
关键词 集成电路 筛选 密封试验 夹具 设计
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面向功耗优化的伪随机测试矢量生成 被引量：2
16
作者 王佩宁 胡晨 李锐 《电子器件》 CAS 2002年第2期174-177,共4页
随着集成电路设计复杂度和工艺复杂度的提高 ,集成电路的测试面临越来越多的挑战 ,内建自测试作为一种新的可测性设计方法 ,能显著提高电路中随机逻辑的可测性 ,解决一系列测试难题 ,但它同时也引起了测试功耗问题。本文提出了一种面向... 随着集成电路设计复杂度和工艺复杂度的提高 ,集成电路的测试面临越来越多的挑战 ,内建自测试作为一种新的可测性设计方法 ,能显著提高电路中随机逻辑的可测性 ,解决一系列测试难题 ,但它同时也引起了测试功耗问题。本文提出了一种面向功耗优化的伪随机测试向量生成方法 ,在保证故障覆盖率的条件下 ,大大降低了测试功耗。 展开更多
关键词 集成电路 可测性设计 内建自测试 BIST 伪随机测试 低功耗
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直流与脉流牵引电机结构与制修要求(续) 第六讲 牵引电机的换向与改进换向的措施(续) 被引量：2
17
作者 胡礼源 《电力机车技术》 2002年第2期37-41,共5页
详细列举了牵引电机型式试验、例行试验及研究性试验所需进行的各试验项目,分别介绍了电阻直接消耗法和回馈法两种电机试验线路,并分析其各自的优缺点和试验时应注意的事项。采用回馈法进行了牵引电机的换向试验。
关键词 结构 制修要求 换向 改进换向 牵引电机 试验项目 电力机车
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基于BSIM深亚微米级MOSFET短沟道效应建模和特征提取方法研究 被引量：2
18
作者 赵阳 Parke Stephen Burke Franklyn 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第5期841-844,共4页
本文基于BSIM标准研究了现代深亚微米级MOSFET器件的建模和特征提取方法 ,着重在于短沟道效应方面 ,其中测试样品由MicronTM公司提供 ,最短沟道长度仅为 0 16微米 .内容包括一般短沟道效应、基板效应和漏极感应势垒降低效应 (简称DIBL... 本文基于BSIM标准研究了现代深亚微米级MOSFET器件的建模和特征提取方法 ,着重在于短沟道效应方面 ,其中测试样品由MicronTM公司提供 ,最短沟道长度仅为 0 16微米 .内容包括一般短沟道效应、基板效应和漏极感应势垒降低效应 (简称DIBL效应 )等 .研究表明 ,实验数据和BSIM模型结果较好吻合 ,证明文中方法的有效性以及较好的应用前景 . 展开更多
关键词 MOSFET器件 建模与特征提取 短沟道效应 BSIM模型
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一种天文用CCD相机的电路设计 被引量：2
19
作者 陈建军 李彬华 +2 位作者 张牛虎 李汉青 宋谦 《天文研究与技术》 CSCD 2009年第2期130-135,共6页
简述了一种面向天文应用的CCD相机系统的设计要求,详细介绍了该相机系统电路的基本结构及设计原则,包括CCD及其周边电路、模拟前端、时钟驱动电路、电源电路以及用VHDL编写的植入FPGA的CCD时序发生器电路等一些技术细节。对系统中一些... 简述了一种面向天文应用的CCD相机系统的设计要求,详细介绍了该相机系统电路的基本结构及设计原则,包括CCD及其周边电路、模拟前端、时钟驱动电路、电源电路以及用VHDL编写的植入FPGA的CCD时序发生器电路等一些技术细节。对系统中一些关键电路模块进行了仿真和实测,并对仿真和测试结果进行比较分析,最后给出该CCD相机的图像采集结果。 展开更多
关键词 CCD 电路设计 FPGA 仿真与测试 天文应用
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一种基于最优化模型的数字电路测试生成方法 被引量：1
20
作者 潘中良 张光昭 《应用科学学报》 CAS CSCD 1999年第2期211-215,共5页
基于基本门电路的特征函数及被测电路的约束网络结构模型，首先提出一种用于数字电路的模拟退火（ＳＡ）测试生成算法，然后在ＳＡ算法中采用梯度算法的退火梯度法，该方法的特点是具有全局收敛性和较高的计算效率，它不仅加速了数字电... 基于基本门电路的特征函数及被测电路的约束网络结构模型，首先提出一种用于数字电路的模拟退火（ＳＡ）测试生成算法，然后在ＳＡ算法中采用梯度算法的退火梯度法，该方法的特点是具有全局收敛性和较高的计算效率，它不仅加速了数字电路的测试生成过程。 展开更多
关键词 数字电路 测试生成 最优化 模拟退火 梯度算法
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