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过热度对无铅焊锡雾化粉末特性的影响 被引量:19
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作者 许天旱 赵麦群 +3 位作者 邸小波 李涛 刘阳 张文韬 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第4期128-130,共3页
利用自行设计的超音速雾化制粉装置,研究了合金过热度对 SnAgCu 系无铅焊锡粉末有效雾化率、粒度分布、球形度及含氧量的影响。结果表明:随着合金过热度升高,粉末粒度有明显变细趋势,粉末氧含量随着过热度的升高而急剧增大;在其他条件不... 利用自行设计的超音速雾化制粉装置,研究了合金过热度对 SnAgCu 系无铅焊锡粉末有效雾化率、粒度分布、球形度及含氧量的影响。结果表明:随着合金过热度升高,粉末粒度有明显变细趋势,粉末氧含量随着过热度的升高而急剧增大;在其他条件不变,过热度为150℃时,雾化粉末的有效雾化率最高,且球形度较好。与 SnPb 雾化粉末相比,Sn_3Ag2.8Cu 无铅焊锡粉末具有较低的含氧量和较高的有效雾化率;Sn3Ag2.8CuCe 具有较高的氧含量,有效雾化率高于 SnPb,低于 Sn3Ag2.8Cu。 展开更多
关键词 无铅焊锡 过热度 粉末特性 雾化粉末 snpb 制粉装置 自行设计 粒度分布 粉末粒度 含氧量 球形度 氧含量 超音速 合金
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Sn-Pb焊点金脆失效行为研究进展评述 被引量:9
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作者 孙晓伟 程明生 陈该青 《电子工艺技术》 2017年第6期315-318,共4页
随着大量细间距、高密度的BGA或QFN等器件在复合基板或高频微波板镀金焊盘上应用,SnPb焊点金脆失效行为已成为航天产品制造必须考虑的问题。针对当前航天产品电气互联过程中含金焊点失效问题,从镀金层搪锡去金处理的标准要求、产生金脆... 随着大量细间距、高密度的BGA或QFN等器件在复合基板或高频微波板镀金焊盘上应用,SnPb焊点金脆失效行为已成为航天产品制造必须考虑的问题。针对当前航天产品电气互联过程中含金焊点失效问题,从镀金层搪锡去金处理的标准要求、产生金脆含金量、金脆失效行为的界面反应行为等方面对国内外研究现状、动态进行了分析和评述,并结合航天产品的应用环境,提出了今后金脆失效行为的研究重点和方向。 展开更多
关键词 焊点失效 金脆 snpb 镀金焊盘 含金量
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电迁移作用下SnPb与Ni(P)界面金属间化合物的极性生长 被引量:6
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作者 陆裕东 何小琦 +2 位作者 恩云飞 王歆 庄志强 《金属学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2009年第2期178-182,共5页
采用球栅阵列封装(BGA)焊点研究共晶SnPb焊点中的电迁移行为,分析了电迁移作用下SnPb焊点与Ni(P)镀层界面金属间化合物(IMC)的极性生长现象,从原子迁移的角度提出了互连焊点微结构演化的微观机理.焊点在焊接过程中形成厚度约为2μm的Ni_... 采用球栅阵列封装(BGA)焊点研究共晶SnPb焊点中的电迁移行为,分析了电迁移作用下SnPb焊点与Ni(P)镀层界面金属间化合物(IMC)的极性生长现象,从原子迁移的角度提出了互连焊点微结构演化的微观机理.焊点在焊接过程中形成厚度约为2μm的Ni_3Sn_4 IMC层,随后的120℃热处理并不会导致界面IMC的明显生长.而电迁移作用下,阳极焊点与镀层界面IMC出现异常生长,同时阴极焊点与镀层界面IMC生长受到抑制,最终在同一焊点中形成极性生长的现象.界面IMC的极性生长与电迁移引起的原子通量有关,Sn原子通量方向与电子流方向相同,而Ni原子通量方向相反,导致阳极界面IMC的异常生长,而相同的原子迁移特性导致阴极界面IMC的生长受到抑制. 展开更多
关键词 snpb 焊点 金属间化合物 电迁移
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Ni/Au镀层与SnPb焊点界面电迁移的极性效应 被引量:6
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作者 陆裕东 何小琦 +2 位作者 恩云飞 王歆 庄志强 《稀有金属材料与工程》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2010年第2期254-257,共4页
采用Ni(P)/Au镀层-SnPb焊点-Ni(P)/Au镀层的互连结构,研究电迁移作用下焊点/镀层界面金属间化合物(IMC)的极性生长特性,从电位差和化学位梯度条件下原子定向扩散的角度分析互连结构的微结构变化的微观机制。在无外加应力条件下,由于液... 采用Ni(P)/Au镀层-SnPb焊点-Ni(P)/Au镀层的互连结构,研究电迁移作用下焊点/镀层界面金属间化合物(IMC)的极性生长特性,从电位差和化学位梯度条件下原子定向扩散的角度分析互连结构的微结构变化的微观机制。在无外加应力条件下,由于液态反应速率远远快于固态反应速率,Ni(P)/Au镀层与焊点界面IMC经过120℃、100h的热处理后无明显变化。但是,在电迁移作用下,由于Sn沿电子流方向的定向扩散使阳极界面IMC异常生长,而阴极界面IMC厚度基本不变。由于电子由上层Cu布线进入焊点的电子注入口位于三相结合界面位置,在焦耳热的作用下会导致焊料的局部熔融,引起Cu布线与焊料的反应,使电子注入口的Cu布线合金化。 展开更多
关键词 NI/AU snpb 焊点 电迁移 金属间化合物
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倒装焊中复合SnPb焊点形态模拟 被引量:7
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作者 朱奇农 王国忠 罗乐 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第5期55-58,共4页
本文给出了倒装焊 (flip chip)焊点形态的能量控制方程 ,采用SurfaceEvolver软件模拟了倒装焊复合SnPb焊点 (高Pb焊料凸点 ,共晶SnPb焊料焊点 )的三维形态 .利用焊点形态模拟的数据 ,分析了芯片和基板之间SnPb焊点的高度与焊点设计和焊... 本文给出了倒装焊 (flip chip)焊点形态的能量控制方程 ,采用SurfaceEvolver软件模拟了倒装焊复合SnPb焊点 (高Pb焊料凸点 ,共晶SnPb焊料焊点 )的三维形态 .利用焊点形态模拟的数据 ,分析了芯片和基板之间SnPb焊点的高度与焊点设计和焊接工艺参数的关系 .研究表明 :共晶SnPb焊料量存在临界值 ,当共晶SnPb焊料量小于临界值时 ,焊点的高度等于芯片上高Pb焊料凸点的半径值 ;当共晶SnPb焊料量大于临界值时 ,焊点的高度随共晶SnPb焊料量的增加而增加 .另外 ,采用无量纲的形式给出了焊点高度与共晶焊料量、焊盘尺寸、芯片凸点的尺寸 ,芯片重量之间的关系模型 ,研究结果对倒装焊焊点形态的控制、工艺参数的优化和提高焊点可靠性具有指导意义 . 展开更多
关键词 倒装焊 焊点形态 snpb 封装
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晶圆级封装中的SnPb焊料凸点制作工艺 被引量:2
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作者 杨立功 罗驰 +2 位作者 刘欣 刘建华 叶冬 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2004年第5期529-531,共3页
 以晶圆级封装工艺技术(WLP)研究为基础,阐述了电化学淀积SnPb焊料凸点的工艺控制过程。采用电化学淀积方法,制备出150μm高(均匀性为±10μm)的SnPb焊料凸点。经扫描电镜分析,SnPb焊料凸点的成份含量(63/37)控制在5%范围之内。
关键词 晶圆级封装 电化学淀积 snpb 焊料凸点
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Factors of effecting creep rupture of SMT solder joints
7
作者 Zhu Ying Fang Hongyuan and Qian Yiyu (Harbin Institute of Technology)Cui Dianheng (Fourteenth Institute of the Ministry of Mechanical and Electronic Industry of China)Ding Kejian (Qunli Metal Materials Factory,Wu Xi) 《China Welding》 EI CAS 1994年第1期15-21,共7页
The reliability of SMT soldered joints is one of the most important problems which need to be solved in the application of SMT. In this paper, the influence of grain size, stress and intermetallic compounds in joints ... The reliability of SMT soldered joints is one of the most important problems which need to be solved in the application of SMT. In this paper, the influence of grain size, stress and intermetallic compounds in joints is studied by means of testing the creep rupture life of joints at high temperature. It shows that all the crack surface consists of transgranular and intergranular fracture at 125℃, and grain size and stress are different because of different cooling rate.When the grain size is large and stress in joints is small, the creep rupture life is longer; otherwise, the life of joints decreases because of the viscid flow on grain boundary. When the Cu-Sn intermetallic compounds are present in the joints,the crack usually initiatesat the Cu-Sn compounds, the fracture tended to happen at the compounds area, and the creep rupture life will decrease with the thickness increase of Cu-Sn intermetallic compounds. 展开更多
关键词 SMT SOLDERING snpb solder creep rupture
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SnPb63—37高性能焊锡的研制
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作者 何炳大 《电子工艺技术》 1991年第6期22-22,21,共2页
本文阐述了国产狄盾牌Sn Pb63—37高性能焊锡的研制过程,并介绍了该焊锡的理化、机械性能,其质量已达到美国爱法公司Sn Ph63—37焊锡的水平,并广泛应用于高技术的电子计算机、仪器仪表的焊接中。
关键词 焊接 焊锡 snpb 波峰焊机
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钎焊及其设备
9
《机械制造文摘(焊接分册)》 2006年第2期20-22,共3页
LD31铝合金电刷镀SnPb钎料合金软钎焊;Ti对金属间化合物增强陶瓷钎焊接头组织与性能的影响;半导体激光焊接系统的特点及萁在无铅软钎焊中的应用;锌铝合金钎焊接头组织结构研究;Sn-3.5Ag 0.6Cu合金对铜引线的钎焊性研究。
关键词 软钎焊 LD31铝合金 设备 金属间化合物 激光焊接系统 钎料合金 组织与性能 snpb 钎焊接头 增强陶瓷
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钎焊及其设备
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《机械制造文摘(焊接分册)》 2006年第4期22-24,共3页
SnPb钎料与Au/Ni/Cu焊盘反应过程中Au的分布;金属/陶瓷发热体直接钎焊接头的应力分析;钎焊温度对TC4与Ti3Al—Nb合金钎焊接头组织的影响;SiC陶瓷与Ti合金的(Ag—Cu—Ti)-W复合钎焊接头组织结构研究;采用多层钎焊维修损坏的部... SnPb钎料与Au/Ni/Cu焊盘反应过程中Au的分布;金属/陶瓷发热体直接钎焊接头的应力分析;钎焊温度对TC4与Ti3Al—Nb合金钎焊接头组织的影响;SiC陶瓷与Ti合金的(Ag—Cu—Ti)-W复合钎焊接头组织结构研究;采用多层钎焊维修损坏的部件或工具;无铅波峰焊Sn—Bi—Ag—Cu钎料焊点剥离机制。 展开更多
关键词 钎焊接头 设备 snpb 接头组织 TI合金 金属/陶瓷 TI3AL SIC陶瓷 反应过程 应力分析
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在航空电子应用中无铅和混合系统组件(SNPB/无铅)的制造和可靠性
11
作者 李桂云(编译) Andrew Mawer +1 位作者 Diane Hodges Popps Gabriel Presas 《现代表面贴装资讯》 2005年第5期42-50,共9页
由于环境和政治方面的原因,尽管电子产品中铅的使用对环境的明显的影响的潜在趋势还不明确,但是,电子产品中禁止使用铅是人们不可回避的热点话题。由于受到工艺和可靠性的限制,禁止使用铅的立法已将整个产品目录删除。看起来是多种... 由于环境和政治方面的原因,尽管电子产品中铅的使用对环境的明显的影响的潜在趋势还不明确,但是,电子产品中禁止使用铅是人们不可回避的热点话题。由于受到工艺和可靠性的限制,禁止使用铅的立法已将整个产品目录删除。看起来是多种方式的电子制造,也就是说,某些组装将使用传统的共晶焊料,而其它的一些组装将使用不同的无铅合金,是确定无疑的。多种方式的制造结果就是产品要求使用SnPb和无铅元件。本文的研究旨在为航空电子工业提供无铅和混合系统组件的可靠性数据。 为了分析在极端的环境下几种设计和组装工艺的变量而设计了一种CCA测试媒介物。CCA变量包括焊膏类型、焊料凸点类型、器件类型和使用的底部填充材料。焊膏包括Sn63/Pb37和(95.5Sn/3.8Ag/0.7Cu)合金。焊料凸点是SnPb或者是无铅的。器件类型包括间距为0.5、0.75、0.85n1.27mm的面阵列元件。可以考虑使用的底部填料有不可返修的底层填充或可以返修的底层填充。 测试媒介物的设计可以通过测量菊花链环路的电阻来实时监控焊点互连。使用热循环来强化环境测试中的CCA。热循环曲线是由55℃-125℃范围内8的温度构成的,在达到一定热量时停滞15分钟;在冷却温度下停滞10分钟,每分钟的升温速率为5℃-10℃。 展开更多
关键词 无铅 制造 可靠性 航空电子学 可靠性数据 无铅合金 电子制造 系统组件 snpb 电子应用
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SnPb钎料合金的粘塑性Anand本构方程 被引量:41
12
作者 王国忠 程兆年 《应用力学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第3期133-139,共7页
采用统一型粘塑性本构 Anand方程描述了电子封装焊点 Sn Pb钎料合金的非弹性变形行为 ,基于 Sn Pb 合金的弹塑性蠕变本构方程和实验数据 ,确定了6 2 Sn36 Pb2 Ag、6 0 Sn40 Pb、96 .5 Sn3.5 Ag和 97.5 Pb2 .5 Sn四种钎料合金 Anand方程... 采用统一型粘塑性本构 Anand方程描述了电子封装焊点 Sn Pb钎料合金的非弹性变形行为 ,基于 Sn Pb 合金的弹塑性蠕变本构方程和实验数据 ,确定了6 2 Sn36 Pb2 Ag、6 0 Sn40 Pb、96 .5 Sn3.5 Ag和 97.5 Pb2 .5 Sn四种钎料合金 Anand方程的材料参数 ,验证了粘塑性 Anand本构方程对 Sn Pb合金在恒应变速率和稳态塑性流动条件下应力应变行为的预测能力。结果表明 ,Anand方程能有效描述 Sn Pb钎料的粘塑性本构行为 ,并可应用于电子封装 Sn 展开更多
关键词 AnAnD 粘塑性 本构方程 钎料 合金
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锡锌钎料的腐蚀行为 被引量:19
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作者 夏志东 穆楠 史耀武 《中国腐蚀与防护学报》 CAS CSCD 2003年第4期234-238,共5页
在传统的SnZn共晶钎料中加入微量稀土元素获得含稀土的SnZnRE钎料 .采用失重法、扫描电镜腐蚀形貌观察及电化学分析技术对钎料在不同环境下的腐蚀行为进行分析 ,研究SnZn系钎料的抗腐蚀性能 ,并与SnPb钎料进行了比较 .
关键词 无铅钎料 锡锌钎料 锡铅钎料 腐蚀
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Sn-Zn系钎料研究及应用现状 被引量:11
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作者 张习敏 胡强 +1 位作者 徐骏 宋德军 《电子工艺技术》 2005年第5期273-277,共5页
随着钎料无铅化的发展,Sn-Zn钎料以其低廉的成本,与SnPb钎料相近的熔点成为无铅钎料研究的重点。但是Sn-Zn钎料存在易氧化,抗腐蚀性差,润湿性差的问题,通常在SnZn钎料中加入不同元素,改善其性能。主要阐述不同添加元素B i、A l、In、Re... 随着钎料无铅化的发展,Sn-Zn钎料以其低廉的成本,与SnPb钎料相近的熔点成为无铅钎料研究的重点。但是Sn-Zn钎料存在易氧化,抗腐蚀性差,润湿性差的问题,通常在SnZn钎料中加入不同元素,改善其性能。主要阐述不同添加元素B i、A l、In、Re(稀土元素)、Ag、Cu、P和多元合金对SnZn钎料自身性能和钎料与Cu结合性能的影响,概述SnZn系钎料的工业应用现状。 展开更多
关键词 SnZn系钎料 snpb钎料 无铅钎料 润湿性
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Ag含量对Sn-Zn-Ag无铅钎料腐蚀性能的影响 被引量:17
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作者 李晓燕 雷永平 +1 位作者 夏志东 史耀武 《电子工艺技术》 2006年第2期70-72,77,共4页
在Sn-Zn共晶钎料中加入不同含量的Ag元素制成Sn-9Zn-xAg无铅钎料,利用失重法、扫描电镜的腐蚀形貌观察以及EDS成分分析,分析了Sn-9Zn-xAg无铅钎料在3%NaC l溶液浸泡腐蚀情况下的腐蚀行为,并与Sn-Pb以及Sn-Zn钎料进行比较。结果表明:随... 在Sn-Zn共晶钎料中加入不同含量的Ag元素制成Sn-9Zn-xAg无铅钎料,利用失重法、扫描电镜的腐蚀形貌观察以及EDS成分分析,分析了Sn-9Zn-xAg无铅钎料在3%NaC l溶液浸泡腐蚀情况下的腐蚀行为,并与Sn-Pb以及Sn-Zn钎料进行比较。结果表明:随着Ag含量的增加,钎料合金的抗腐蚀性能有所提高。 展开更多
关键词 无铅钎料 锡锌钎料 锡铅钎料 Sn—Zn—Ag无铅钎料 腐蚀
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倒装焊SnPb焊点热循环失效和底充胶的影响 被引量:10
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作者 陈柳 张群 +2 位作者 王国忠 谢晓明 程兆年 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第1期107-112,共6页
采用实验方法 ,确定了倒装焊 Sn Pb焊点的热循环寿命 .采用粘塑性和粘弹性材料模式描述了 Sn Pb焊料和底充胶的力学行为 ,用有限元方法模拟了 Sn Pb焊点在热循环条件下的应力应变过程 .基于计算的塑性应变范围和实验的热循环寿命 ,确定... 采用实验方法 ,确定了倒装焊 Sn Pb焊点的热循环寿命 .采用粘塑性和粘弹性材料模式描述了 Sn Pb焊料和底充胶的力学行为 ,用有限元方法模拟了 Sn Pb焊点在热循环条件下的应力应变过程 .基于计算的塑性应变范围和实验的热循环寿命 ,确定了倒装焊 Sn Pb焊点热循环失效 Coffin- Manson经验方程的材料参数 .研究表明 ,有底充胶倒装焊 Sn Pb焊点的塑性应变范围比无底充胶时明显减小 ,热循环寿命可提高约 2 0倍 。 展开更多
关键词 倒装焊 snpb焊点 底充胶 热循环 有限元模拟 封装 电子器件
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引线框架材料对铜合金与锡铅焊料界面组织的影响 被引量:8
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作者 黄福祥 马莒生 +4 位作者 朱继满 宁洪龙 铃木洋夫 耿志挺 陈国海 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2003年第4期33-35,45,共4页
采用老化试验、金相分析、扫描电镜(SEM)及能谱分析(EDX)等手段对引线框架铜合金与SnPb共晶焊料界面组织进行了分析研究.结果表明,引线框架材料对铜合金与SnPb共晶焊料界面组织有很大的影响,焊点在160℃高温老化300 h后,CuCrZr系合金和C... 采用老化试验、金相分析、扫描电镜(SEM)及能谱分析(EDX)等手段对引线框架铜合金与SnPb共晶焊料界面组织进行了分析研究.结果表明,引线框架材料对铜合金与SnPb共晶焊料界面组织有很大的影响,焊点在160℃高温老化300 h后,CuCrZr系合金和CuNiSi合金与SnPb的界面金属间化合物为Cu6Sn5,其厚度在5~10 ?m; 而C194合金与SnPb的界面金属间化合物为分布有Pb颗粒的Cu6Sn5,厚度已高达60~70 ?m,同时还发现有微小空洞存在,影响焊点的可靠性.与C194合金相比,CuCrZr系合金和CuNiSi合金具有更好的焊接可靠性. 展开更多
关键词 引线框架材料 铜合金 snpb焊料 金属间化合物 可靠性
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电子封装SnPb钎料和底充胶的材料模型及其应用 被引量:7
18
作者 王国忠 陈柳 程兆年 《机械工程学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第12期33-38,共6页
采用统一型粘塑性Anand模型描述SnPb针料的非弹性力学行为,基于试验数据和弹塑性蠕变本构模型,确定了92.5Pb5Sn2.5Ag和60Sn40Pb两种钎料Anand模型的材料参数。采用线性粘弹性Maxwell模型... 采用统一型粘塑性Anand模型描述SnPb针料的非弹性力学行为,基于试验数据和弹塑性蠕变本构模型,确定了92.5Pb5Sn2.5Ag和60Sn40Pb两种钎料Anand模型的材料参数。采用线性粘弹性Maxwell模型,描述了一种倒装焊底充胶U8347-3材料的模量松弛和体积松弛,得到了相应的松弛参数,研究对所给出的材料模型和参数进行了验证。另外,利用有限元法模拟了倒装焊在热循环条件下的应力应变行为,分析了SnPb焊点的塑性应变和热循环寿命。结果表明,采用上述材料模型和参数,可以合理描述SnPb钎料和底充胶的力学本构,并可应用于电子封装的可靠性模拟和分析。 展开更多
关键词 snpb钎料 底充胶 材料模型 倒装焊 电子封装
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焊料微结构演化相场模拟研究和试验验证
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作者 刘新 汪长炜 +3 位作者 韩康宁 朱亚新 邢睿思 侯传涛 《强度与环境》 CSCD 2024年第3期1-11,共11页
电子封装焊料复杂的微结构特征与其宏观强度、硬度、蠕变和疲劳等性能密不可分,这些特征决定了焊料在承受热-力复杂载荷时的服役性能。为了深入揭示焊料的高温蠕变疲劳机理,必须紧密结合其独特的多尺度微结构特征,对焊料内复杂微结构的... 电子封装焊料复杂的微结构特征与其宏观强度、硬度、蠕变和疲劳等性能密不可分,这些特征决定了焊料在承受热-力复杂载荷时的服役性能。为了深入揭示焊料的高温蠕变疲劳机理,必须紧密结合其独特的多尺度微结构特征,对焊料内复杂微结构的演化进行深入研究。本文构建了考虑热-力耦合作用下SnPb焊料的相场模型,并通过微结构表征试验及图像处理技术提取了焊料内部真实的微结构分布,将其作为相场模型的初始构型来模拟不同工况下SnPb焊料内部微结构的演化行为,并揭示了焊料内部微结构演化机制。最终,基于相场法的模拟结果和试验表征技术描述了焊料内部微结构与温度之间的定量关系,为建立具有物理机理的热-力复杂载荷下SnPb焊料宏观有限元本构模型提供了理论支持。 展开更多
关键词 相场法 snpb焊料 微结构演化 热处理
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倒装焊底充胶分层与SnPb焊点热疲劳的可靠性 被引量:5
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作者 张群 谢晓明 +2 位作者 陈柳 王国忠 程兆年 《金属学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2000年第10期1072-1076,共5页
采用实验和有限元模拟,研究了底充胶分层和SnPb焊点的可靠性.结果表明,底充胶分层易发生在芯片/底充胶界面边缘处;当底充胶与芯片粘合强度较弱时,底充胶的早期分层是焊点中裂纹萌生扩展从而导致失效的直接原因;当底完胶与芯... 采用实验和有限元模拟,研究了底充胶分层和SnPb焊点的可靠性.结果表明,底充胶分层易发生在芯片/底充胶界面边缘处;当底充胶与芯片粘合强度较弱时,底充胶的早期分层是焊点中裂纹萌生扩展从而导致失效的直接原因;当底完胶与芯片粘合强度较强时.分层可以削弱底充胶对焊点的机械耦合作用,从而影响焊点的热循环寿命,此时,焊点热疲劳裂纹是焊点失效的直接原因。 展开更多
关键词 倒装焊 底充胶 snpb焊点 分层 热疲劳 可靠性
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