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半导体芯片PCM测试技术的应用研究 被引量:1
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作者 金红杰 都二华 俞凯旋 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2009年第6期166-170,174,共6页
PCM(Progress Control and Monitor)工艺过程监控,是半导体制造过程中的一个重要的环节.它主要是对制造过程中的集成电路或者器件芯片的电参数进行测量,反映出产品在制作过程中是否符合工艺要求以及存在哪些质量问题.文中简要分析了PCM... PCM(Progress Control and Monitor)工艺过程监控,是半导体制造过程中的一个重要的环节.它主要是对制造过程中的集成电路或者器件芯片的电参数进行测量,反映出产品在制作过程中是否符合工艺要求以及存在哪些质量问题.文中简要分析了PCM测试系统的结构,重点探讨了PCM测试系统应用中保证测试精度和提高测试效率的方法. 展开更多
关键词 半导体制造 pcm测试机 测试精度 测试效率
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