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发光二极管芯片快速检测方法的研究
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作者 任红茹 李薇 +4 位作者 刘雪莲 王文杰 梁琨 杨茹 韩德俊 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 2009年第1期90-94,共5页
介绍了一种新的发光二极管(LED)芯片的检测方法及应用。该方法利用自行研制的掩埋双pn结(BDJ)光波长探测器同时测量LED芯片的有效波长及辐射强度,具有简单、快捷、动态范围宽、探测器体积小和便于系统集成的优点,在半导体照明最... 介绍了一种新的发光二极管(LED)芯片的检测方法及应用。该方法利用自行研制的掩埋双pn结(BDJ)光波长探测器同时测量LED芯片的有效波长及辐射强度,具有简单、快捷、动态范围宽、探测器体积小和便于系统集成的优点,在半导体照明最感兴趣的398~780nm波长范围内,波长测量的重复精度及分辨率优于1nm。据此方法,对红、绿、蓝、紫四种LED芯片发光的波长及辐射强度进行了实际测量,对红绿蓝三基色发光二极管合成白光的偏色进行了检测,并与光纤光谱仪测量得到的结果进行了比较。 展开更多
关键词 半导体光电子学 bdj半导体探测器 LED芯片检测 光色测量
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