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发光二极管芯片快速检测方法的研究
1
作者
任红茹
李薇
+4 位作者
刘雪莲
王文杰
梁琨
杨茹
韩德俊
《半导体光电》
CAS
CSCD
北大核心
2009年第1期90-94,共5页
介绍了一种新的发光二极管(LED)芯片的检测方法及应用。该方法利用自行研制的掩埋双pn结(BDJ)光波长探测器同时测量LED芯片的有效波长及辐射强度,具有简单、快捷、动态范围宽、探测器体积小和便于系统集成的优点,在半导体照明最...
介绍了一种新的发光二极管(LED)芯片的检测方法及应用。该方法利用自行研制的掩埋双pn结(BDJ)光波长探测器同时测量LED芯片的有效波长及辐射强度,具有简单、快捷、动态范围宽、探测器体积小和便于系统集成的优点,在半导体照明最感兴趣的398~780nm波长范围内,波长测量的重复精度及分辨率优于1nm。据此方法,对红、绿、蓝、紫四种LED芯片发光的波长及辐射强度进行了实际测量,对红绿蓝三基色发光二极管合成白光的偏色进行了检测,并与光纤光谱仪测量得到的结果进行了比较。
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关键词
半导体光电子学
bdj
半导体探测器
LED芯片检测
光色测量
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职称材料
题名
发光二极管芯片快速检测方法的研究
1
作者
任红茹
李薇
刘雪莲
王文杰
梁琨
杨茹
韩德俊
机构
北京师范大学射线束技术与材料改性教育部重点实验室
出处
《半导体光电》
CAS
CSCD
北大核心
2009年第1期90-94,共5页
文摘
介绍了一种新的发光二极管(LED)芯片的检测方法及应用。该方法利用自行研制的掩埋双pn结(BDJ)光波长探测器同时测量LED芯片的有效波长及辐射强度,具有简单、快捷、动态范围宽、探测器体积小和便于系统集成的优点,在半导体照明最感兴趣的398~780nm波长范围内,波长测量的重复精度及分辨率优于1nm。据此方法,对红、绿、蓝、紫四种LED芯片发光的波长及辐射强度进行了实际测量,对红绿蓝三基色发光二极管合成白光的偏色进行了检测,并与光纤光谱仪测量得到的结果进行了比较。
关键词
半导体光电子学
bdj
半导体探测器
LED芯片检测
光色测量
Keywords
semiconductor
photonics
bdj
photodector
LED
chips
test
optical
parameters
measurement
分类号
TL814 [核科学技术—核技术及应用]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
发光二极管芯片快速检测方法的研究
任红茹
李薇
刘雪莲
王文杰
梁琨
杨茹
韩德俊
《半导体光电》
CAS
CSCD
北大核心
2009
0
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