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谁为新秀十家十二款PⅡ主板评测报告
1
《电子科技》 1998年第3期33-36,共4页
关键词 PentiumⅡ主板 测试 微处理器
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CPU“体格”大检查
2
作者 一强 《中学科技》 2000年第6期35-35,共1页
关键词 计算机 CPU 中央处理器 测试
原文传递
微处理器在微区薄层电阻测试Mapping技术中的应用
3
作者 孙新宇 孟庆浩 +2 位作者 孙以材 孙冰 李福林 《微电子技术》 1997年第3期55-62,共8页
本文利用微区薄层电阻测试的一种斜置四探针新方法，将扩散微区薄层电阻测试结果绘成全片的灰度图，这种微区薄层电阻测试Mapping技术十分有利于评价材料的质量。在测试过程中应用微处理器，可立即数字显示相应的测量电压及微区的薄层... 本文利用微区薄层电阻测试的一种斜置四探针新方法，将扩散微区薄层电阻测试结果绘成全片的灰度图，这种微区薄层电阻测试Mapping技术十分有利于评价材料的质量。在测试过程中应用微处理器，可立即数字显示相应的测量电压及微区的薄层电阻，加快了计算速度并有利于控制探针的合适位置。 展开更多
关键词 微区薄层电阻 探针技术 微处理器
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微处理器功能测试中可控性和可观察性的测试
4
作者 廖强 陈廷槐 《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 1989年第1期79-81,共3页
微处理器(μP)功能测试的一个关键问题是可控性和可观察性的测试。本文提出一个复杂性较低的测试算法,它能对μP的可控性和可观察性进行功能测试,同时,能检测地址译码功能的故障。 限于篇幅,省去了繁琐的定理证明,有兴趣的读者可参阅文... 微处理器(μP)功能测试的一个关键问题是可控性和可观察性的测试。本文提出一个复杂性较低的测试算法,它能对μP的可控性和可观察性进行功能测试,同时,能检测地址译码功能的故障。 限于篇幅,省去了繁琐的定理证明,有兴趣的读者可参阅文献[1]. 展开更多
关键词 测试技术 功能测试 微处理器
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片内调试令内嵌式系统测试简化
5
作者 陈光(礻禹) 《国外电子测量技术》 1998年第1期22-24,共3页
在过去的日子里,针对内嵌式系统进行软件测试和调试也就意味着烧入与拔插技术。编写代码,检查它,然后烧入EPROM,接着运行程序或是拔插E-PROM。如果系统不能工作,你就得修改代码,重新烧入另一块EPROM,重复这个动作直到系统能正常工作为... 在过去的日子里,针对内嵌式系统进行软件测试和调试也就意味着烧入与拔插技术。编写代码,检查它,然后烧入EPROM,接着运行程序或是拔插E-PROM。如果系统不能工作,你就得修改代码,重新烧入另一块EPROM,重复这个动作直到系统能正常工作为止。诸如此类。 现在你可以充分利用调试和测试工具库给你带来的好处:片内调试(OCD),或者又称为后台调试模式。微处理器制造商已经将芯片具有OCD能力当作惯例。你也可以在内嵌式系统中利用OCD来对硬件和软件进行调试。 展开更多
关键词 内嵌式系统 片内调试 测试 CPU 芯片
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MMX丰富桌面功能
6
《个人电脑》 1997年第4期62-77,共16页
Intel的第五代CPU有了新的改观:57条新的用于加速多媒体任务的指令。PC Labs测试了12种第一代具有MMX技术的Pentium PC。
关键词 CPU 微处理器 MMX技术 测试 桌面功能
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