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微处理器功能测试中可控性和可观察性的测试
TEST FOR CONTROLLABILITY AND OBSERVABILITY IN MICROPROCESSORS FUNCTIONAL TEST
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摘要
微处理器(μP)功能测试的一个关键问题是可控性和可观察性的测试。本文提出一个复杂性较低的测试算法,它能对μP的可控性和可观察性进行功能测试,同时,能检测地址译码功能的故障。 限于篇幅,省去了繁琐的定理证明,有兴趣的读者可参阅文献[1].
作者
廖强
陈廷槐
机构地区
西南财经大学信息系
重庆大学计算机系
出处
《计算机学报》
EI
CSCD
北大核心
1989年第1期79-81,共3页
Chinese Journal of Computers
关键词
测试技术
功能测试
微处理器
分类号
TP332.062 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
引文网络
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二级参考文献
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参考文献
2
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0
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0
引证文献
0
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2
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计算机学报
1989年 第1期
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