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微处理器功能测试中可控性和可观察性的测试

TEST FOR CONTROLLABILITY AND OBSERVABILITY IN MICROPROCESSORS FUNCTIONAL TEST
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摘要 微处理器(μP)功能测试的一个关键问题是可控性和可观察性的测试。本文提出一个复杂性较低的测试算法,它能对μP的可控性和可观察性进行功能测试,同时,能检测地址译码功能的故障。 限于篇幅,省去了繁琐的定理证明,有兴趣的读者可参阅文献[1].
作者 廖强 陈廷槐
出处 《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 1989年第1期79-81,共3页 Chinese Journal of Computers
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