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ZnSe_(1-x)S_x-ZnSe应变超晶格结构光致发光研究
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作者 关郑平 范广涵 +1 位作者 宋世惠 范希武 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1991年第3期165-171,共7页
本文研究了ZnSe_(1-x)S_x-ZnSe应变超晶格结构在77K时自由激子的光致发光的线型随激发光密度、势阱涨落、势垒高度的涨落及各层厚对超晶格发光峰E_(?)的影响,并利用Kronig-Penney模型计算了n=1的激子峰值能量与势阱宽度、势垒高度涨落... 本文研究了ZnSe_(1-x)S_x-ZnSe应变超晶格结构在77K时自由激子的光致发光的线型随激发光密度、势阱涨落、势垒高度的涨落及各层厚对超晶格发光峰E_(?)的影响,并利用Kronig-Penney模型计算了n=1的激子峰值能量与势阱宽度、势垒高度涨落的关系.首次从实验上分析了77-250K温度范围内ZnSe_(1-x)S_x-ZnSe应变超晶格激子发光的线型与各参量的密切关系. 展开更多
关键词 ZnSeS/ZnSe 超晶格 结构 光致发光
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薄膜太阳电池
2
作者 邓志杰(摘译) 《现代材料动态》 2010年第1期2-4,共3页
无机薄膜(TF)光伏(PV)工艺正在快速发展,其中非晶Si(a-Si)基Pv组件已有20多年的历史。近年来,工业上研制出第一个以玻璃为衬底的多晶SiTF电池和微晶Si/a-Si迭层电池(称为micromorph电池)。CdTe和CuInSe2太阳电池也发展到生... 无机薄膜(TF)光伏(PV)工艺正在快速发展,其中非晶Si(a-Si)基Pv组件已有20多年的历史。近年来,工业上研制出第一个以玻璃为衬底的多晶SiTF电池和微晶Si/a-Si迭层电池(称为micromorph电池)。CdTe和CuInSe2太阳电池也发展到生产水平。 展开更多
关键词 薄膜太阳电池 CUINSE2 A-SI 无机薄膜 迭层电池 CDTE 生产水 衬底
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用椭圆偏振测量法分析碲镉汞的组分及其均匀性
3
作者 黄仕华 蔡毅 +1 位作者 钱晓凡 陈永安 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 2001年第3期224-226,共3页
简略介绍了椭偏仪的测量原理和测量装置。分析了Hg1-xCdxTe(MCT)的组分与椭偏仪的参数Δ和 ψ之间的关系 ,结果发现碲镉汞的组分x主要与椭偏仪的参数 ψ有关 ,而且x与 ψ的经验关系为 ψ =14.84 - 10 .2 2x。最后用椭圆偏振测量的方法... 简略介绍了椭偏仪的测量原理和测量装置。分析了Hg1-xCdxTe(MCT)的组分与椭偏仪的参数Δ和 ψ之间的关系 ,结果发现碲镉汞的组分x主要与椭偏仪的参数 ψ有关 ,而且x与 ψ的经验关系为 ψ =14.84 - 10 .2 2x。最后用椭圆偏振测量的方法分析了碲镉汞的横向和纵向组分均匀性。该方法具有非破坏性、有效、快捷的特点。 展开更多
关键词 椭圆偏振测量 碲镉汞 组分均匀性 半导体材料
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Ga_xIn_(1-x)P混晶的拉曼散射研究
4
作者 左健 邢锦云 +1 位作者 刘先明 许存义 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1992年第5期11-14,共4页
本文报道了Ga_xIn_(1-x)P混晶的室温拉曼散射和X射线衍射的测试结果。所用的样品用MOCVD方法生长在<100>晶向的GaAs衬底上。混晶组分x值在0.54~0.95之间。实验结果表明,Ga_xIn_(1-x)P混晶的长波长光学声子谱呈现修正的双模行为,... 本文报道了Ga_xIn_(1-x)P混晶的室温拉曼散射和X射线衍射的测试结果。所用的样品用MOCVD方法生长在<100>晶向的GaAs衬底上。混晶组分x值在0.54~0.95之间。实验结果表明,Ga_xIn_(1-x)P混晶的长波长光学声子谱呈现修正的双模行为,具有类GaP和类InP两个光学支。 展开更多
关键词 混晶 双模 喇曼效应 散射谱
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激光照射对p型碲镉汞的结构、电学和光学特性的影响 被引量:2
5
作者 龚琰民 《红外与激光技术》 CSCD 1993年第1期50-54,共5页
用不同能量密度的激光脉冲照射布里奇曼法生长的块状p型的Hg_(1-x)Cd_xTe(x=0.16)单晶。应用能产生0.53μm波长的10ns脉冲(倍频)和能量密度可变(2~50mJ/cm^2)的脉冲激光器(Nd:YAG),在77~300K温度范围内,对原生的及激光照射的单晶样品... 用不同能量密度的激光脉冲照射布里奇曼法生长的块状p型的Hg_(1-x)Cd_xTe(x=0.16)单晶。应用能产生0.53μm波长的10ns脉冲(倍频)和能量密度可变(2~50mJ/cm^2)的脉冲激光器(Nd:YAG),在77~300K温度范围内,对原生的及激光照射的单晶样品,用范德堡法进行直流电导率及霍耳系数测量,还在室温下对样品进行X射线衍射图样及透射测量。电学研究表明,p型碲镉汞在激光照射后变成了n型;光学研究结构表明,激光照射后,自由载流子浓度陡增,透射微乎其微;X射线研究表明,p型单晶样品受激光照射后,结构也发生了变化,在晶格中引入了CdTe、Hg和Te相。 展开更多
关键词 激光照射 碲镉汞 电学 影响 光学
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MOCVD生长GaAs/AlGaAs量子阱研究 被引量:1
6
作者 任红文 黄柏标 +3 位作者 刘士文 刘立强 徐现刚 蒋民华 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 1992年第1期4-7,共4页
利用常压MOCVD技术在较低生长速率下生长出多种GaAs/AlGaAs多量子阱结构材料,利用低温PL谱和TEM对材料结构进行了表征。所得势阱和势垒结构厚度均匀平整,最窄阱宽为1.8nm。本研究表明,低速率(γ≤0.5nm/s)连续生长工艺能够避免杂质在界... 利用常压MOCVD技术在较低生长速率下生长出多种GaAs/AlGaAs多量子阱结构材料,利用低温PL谱和TEM对材料结构进行了表征。所得势阱和势垒结构厚度均匀平整,最窄阱宽为1.8nm。本研究表明,低速率(γ≤0.5nm/s)连续生长工艺能够避免杂质在界面富集,优于间断生长工艺,且在掺si n^+-GaAs衬底上所得量子阱发光强度高于掺Cr SI-GaAs衬底上的结果。 展开更多
关键词 生长 量子阱 MOCVD GAAS/ALGAAS
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掺碳锗硅合金最新研究进展 被引量:2
7
作者 亓震 叶志镇 《材料科学与工程》 CSCD 1998年第3期22-25,共4页
SiGeC三元合金近几年来受到人们的广泛关注,碳的加入为Si-Ge系统在能带和应变工程上提供了更大的灵活性。本文对碳加入锗硅材料中后应变的缓解及碳对合金能带结构的影响进行了概述,并对其机理做了总结。
关键词 能带结构 价带补偿 硅锗碳合金
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Ⅲ族锢源对LP-MOVPE方法生长In_(1-x)Ga_xAs材料的影响 被引量:1
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作者 祝进田 胡礼中 刘式墉 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1994年第6期393-396,共4页
本文报道了利用低压金属有机物汽相外延(LP-MOVPE)技术,在(001)InP衬底上生长In_(1-x)Ga_xAs体材料及In_(1-x)Ga_xAs/InP量子阶结构材料的结果.对于TMG/TEIn源,In_(1-... 本文报道了利用低压金属有机物汽相外延(LP-MOVPE)技术,在(001)InP衬底上生长In_(1-x)Ga_xAs体材料及In_(1-x)Ga_xAs/InP量子阶结构材料的结果.对于TMG/TEIn源,In_(1-x)Ga_xAs材料的非故意掺杂载流子依匿为7.2×1016cm-3,最窄光致发光峰值半宽为18.9meV,转靶X光衍射仪对量子阶结构材料测到±2级卫星峰;而对于TMG/TMIn源,非故意掺杂载流于浓度为3.1×10 ̄15cm ̄(-3),最窄光致发光峰值半宽为8.9meV,转靶X光衍射仪对量子阶结构材料测到±5级卫星峰. 展开更多
关键词 LP-MOVPE法 In1-xGaxAs 材料
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Laser annealing of SiO2 film deposited by ICPECVD for fabrication of silicon based low loss waveguide 被引量:2
9
作者 Ya'nan WANG Yi LUO +6 位作者 Changzheng SUN Bing XIONG Jian WANG Zhibiao HAO Yanjun HAN Lai WANG Hongtao LI 《Frontiers of Optoelectronics》 EI CSCD 2016年第2期323-329,共7页
Laser annealing of silicon dioxide (SiO2) film formed by inductively coupled plasma enhanced chemical vapor deposition (ICPECVD)is studied for the fabrication of low loss silicon based waveguide. The influence of ... Laser annealing of silicon dioxide (SiO2) film formed by inductively coupled plasma enhanced chemical vapor deposition (ICPECVD)is studied for the fabrication of low loss silicon based waveguide. The influence of laser annealing on ICPECVD-deposited SiO2 film is investigated. The surface roughness, refractive index, and etch rate of annealed samples are compared with those of SiO2 film obtained by thermal oxidation. It is demonstrated that the performance of ICPECVD-deposited SiO2 film can be significantly improved by laser annealing. Al2O3/SIO2 waveguide has been fabricated on silicon substrate with the SiO2 lower cladding formed by ICPECVD and laser annealing process, and its propagation loss is found to be comparable with that of the waveguide with thermally oxidized lower cladding. 展开更多
关键词 laser annealing waveguide loss silicondioxide inductively coupled plasma enhanced chemicalvapor deposition (ICPECVD)
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红外半导体材料Hg Mn Te的缺陷腐蚀 被引量:2
10
作者 李宇杰 刘晓华 介万奇 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第9期765-769,共5页
窄禁带、含Hg 的Ⅱ-Ⅵ族化合物半导体晶体的电性能受缺陷影响很大,蚀坑密度又是缺陷电学性质研究中重要的相关参数.本文从腐蚀机理出发,研究了HgMnTe 的腐蚀工艺,探索出一种适合于HgMnTe 的腐蚀液.从实验结果来看... 窄禁带、含Hg 的Ⅱ-Ⅵ族化合物半导体晶体的电性能受缺陷影响很大,蚀坑密度又是缺陷电学性质研究中重要的相关参数.本文从腐蚀机理出发,研究了HgMnTe 的腐蚀工艺,探索出一种适合于HgMnTe 的腐蚀液.从实验结果来看,该腐蚀液可显示不同晶面上的多种缺陷,如位错、晶界、孪晶、杂质和沉淀等,而且腐蚀质量高.以此为基础,我们还分析了ACRT 和Bridgm an 两种方法生长的HgMnTe 展开更多
关键词 红外半导体材料 HgMnTe 缺陷腐蚀
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AlGaAs/GaAs HEMT中界面态对沟道层电场特性影响的二维数值研究 被引量:4
11
作者 张兴宏 杨玉芬 王占国 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第3期191-196,共6页
本文建立了AlGaAs/GaAsHEMT的二维量子模型,这个模型是基于在GaAs沟道中用自洽求解薛定谔方程和泊松方程.用二维数值模拟得到了HEMT沟道中横向电场和纵向电场的二维分布,详细研究了不同固定界面态密度对沟道... 本文建立了AlGaAs/GaAsHEMT的二维量子模型,这个模型是基于在GaAs沟道中用自洽求解薛定谔方程和泊松方程.用二维数值模拟得到了HEMT沟道中横向电场和纵向电场的二维分布,详细研究了不同固定界面态密度对沟道中横向电场和纵向电场的影响. 展开更多
关键词 HEMT 二维量子模型 砷化镓 镓铝砷化合物
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微重力环境区熔生长Bi12GeO20晶体
12
作者 毕叔和 《电子材料快报》 1998年第6期15-16,共2页
关键词 微重力 BGO晶体 区熔生长
全文增补中
Hg_(1-x)Cd_xTe在高压下的结构、状态方程与相变 被引量:2
13
作者 顾惠成 陈良辰 +4 位作者 褚君浩 鲍忠兴 刘克岳 王金义 郑康立 《高压物理学报》 CAS CSCD 北大核心 2000年第4期298-301,共4页
利用X射线粉末衍射方法 ,在室温高压下观察到了Hg1-xCdxTe(x =0 .19)的相变。实验是在DAC高压装置上完成的 ,压力从 0逐步加至 10 1GPa。在常温常压下Hg1-xCdxTe(x =0 .19)具有闪锌矿结构。从实验结果看到 ,在压力为 3GPa和 6 8~ 8 3... 利用X射线粉末衍射方法 ,在室温高压下观察到了Hg1-xCdxTe(x =0 .19)的相变。实验是在DAC高压装置上完成的 ,压力从 0逐步加至 10 1GPa。在常温常压下Hg1-xCdxTe(x =0 .19)具有闪锌矿结构。从实验结果看到 ,在压力为 3GPa和 6 8~ 8 3GPa之间有两个结构相变存在。初步认为 ,后一个相变与Hg1-xCdxTe(x =0 .19)的金属化有密切关系。通过计算 ,得到了它在相变前的状态方程 ,并且与二元HgTe化合物在相变规律上进行了比较。 展开更多
关键词 高压 X射线衍射 状态方程 相变 晶体结构 三元化合物半导体 可改变带隙 闪锌矿结构
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DUAL-BAND INFRARED DETECTORS 被引量:12
14
作者 A. Rogalski  (Institute of Applied Physics, Military University of Technology, 2 Kaliskiego St., 00 908 Warsaw, Poland) 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2000年第4期241-258,共18页
As the infrared technology continues to advance, there is a growing demand for multispectral detectors for advanced IR systems with better target discrimination and identification. Both HgCdTe detectors and quantum we... As the infrared technology continues to advance, there is a growing demand for multispectral detectors for advanced IR systems with better target discrimination and identification. Both HgCdTe detectors and quantum well GaAs/AlGaAs photodetectors offer wavelength flexibility from medium wavelength to very long wavelength and multicolor capability in these regions. The main challenges facing all multicolor devices are more complicated device structtures, thicker and multilayer material growth, and more difficult device fabrication, especially when the array size gets larger and pixel size gets smaller. In the paper recent progress in development of two color HgCdTe photodiodes and quantum well infrared photodetectors is presented. More attention is devoted to HgCdTe detectors. The two color detector arrays are based upon an n P N (the capital letters mean the materials with larger bandgap energy) HgCdTe triple layer heterojunction design. Vertically stacking the two p n junctions permits incorporation of both detectros into a single pixel. Both sequential mode and simultaneous mode detectors are fabricated. The mode of detection is determined by the fabrication process of the multilayer materials. Also the performances of stacked multicolor QWIPs detectors are presented. For multicolor arrays, QWIP’s narrow band spectrum is an advantage, resulting in low spectral crosstalk. The major challenge for QWIP is developing broadband or multicolor optical coupling structures that permit efficient absorption of all required spectral bands. 展开更多
关键词 n-P-NHgCdTephotodetectors QWIPs
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氧等离子体处理提高AlGaN/GaN肖特基势垒高度
15
作者 赵勇兵 《半导体技术》 CAS 北大核心 2020年第10期760-763,815,共5页
通过氧等离子体处理工艺,在AlGaN/GaN异质结构上制备了肖特基二极管。基于正向电流-电压特性和双二极管模型,对AlGaN/GaN异质结构的肖特基势垒高度和理想因子进行了计算和分析。采用氧等离子体处理的肖特基二极管,其理想因子由4.7下降到... 通过氧等离子体处理工艺,在AlGaN/GaN异质结构上制备了肖特基二极管。基于正向电流-电压特性和双二极管模型,对AlGaN/GaN异质结构的肖特基势垒高度和理想因子进行了计算和分析。采用氧等离子体处理的肖特基二极管,其理想因子由4.7下降到1.45,势垒高度由0.8 eV提高到1.057 eV,反向漏电流降低了约两个数量级。经氧等离子体处理制备的AlGaN/GaN肖特基二极管具有较高的势垒高度,抑制了垂直隧穿,同时氧等离子体处理对肖特基接触金属下方和附近的表面陷阱还起到钝化作用,从而降低了陷阱辅助隧穿。氧等离子体处理工艺为制备理想的肖特基二极管提供了一种有效的方法。 展开更多
关键词 ALGAN/GAN 肖特基二极管 势垒高度 氧等离子体处理 理想因子
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MOCVD和GSMBE生长Ga_(0.5)In_(0.5)P外延层中有序结构的研究 被引量:2
16
作者 董建荣 李晓兵 +4 位作者 孙殿照 陆大成 李建平 孔梅影 王占国 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1996年第9期641-645,共5页
用MOCVD在(100)、GSMBE在(100)和(111)BGaAs上生长了GaInP外延层.PL测试表明,(100)衬底上GaInPPL峰的能量比计算的带隙分别小43(GSMBE生长)和104meV(MOCVD生... 用MOCVD在(100)、GSMBE在(100)和(111)BGaAs上生长了GaInP外延层.PL测试表明,(100)衬底上GaInPPL峰的能量比计算的带隙分别小43(GSMBE生长)和104meV(MOCVD生长).用Kurtz等人的模型对MOCVD和GSMBE生长的GaInP中有序度的不同进行了解释.并讨论了衬底晶向对GaInP中有序程度的影响. 展开更多
关键词 MOCVD GSMBE GaInP层 外延生长 有序结构
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不同响应波长的HgCdTe光导器件噪声分析 被引量:5
17
作者 张燕 方家熊 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第7期1369-1373,共5页
研究了不同响应波长的HgCdTe器件在不同背景辐射条件下的噪声变化。随着背景辐射的增加,甚长波器件的噪声减小,而中波器件相反。噪声频谱测量表明,产生-复合噪声分量和1/f噪声分量是器件的主要噪声来源,并且这两个分量随背景的变化趋势... 研究了不同响应波长的HgCdTe器件在不同背景辐射条件下的噪声变化。随着背景辐射的增加,甚长波器件的噪声减小,而中波器件相反。噪声频谱测量表明,产生-复合噪声分量和1/f噪声分量是器件的主要噪声来源,并且这两个分量随背景的变化趋势相同。非平衡载流子和器件有效寿命的理论分析,表明器件噪声随背景辐射的变化存在一个极大值,而中波和甚长波器件处在不同的作用区域内,接受到的背景辐射对载流子浓度和器件有效寿命的影响不同,从而噪声变化表现不同。在此基础上,提出了"临界背景通量密度"的概念。 展开更多
关键词 中导体探测器 背景辐射 噪声 临界背景通量密度 HGCDTE
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能捕捉可见光谱边缘近红外光的新型半导体合金
18
作者 李龙飞(翻译) 《现代材料动态》 2018年第12期7-8,共2页
美国密歇根大学安娜堡分校的科学家开发出一种新的半导体合金,可以捕获可见光谱边缘的近红外光。该合金与称为聚光光伏(CPVS)的下一代太阳能电池兼容,其效率高达50%——是传统平板硅太阳能电池的两倍。当前的CPVS聚集并聚焦太阳光到由... 美国密歇根大学安娜堡分校的科学家开发出一种新的半导体合金,可以捕获可见光谱边缘的近红外光。该合金与称为聚光光伏(CPVS)的下一代太阳能电池兼容,其效率高达50%——是传统平板硅太阳能电池的两倍。当前的CPVS聚集并聚焦太阳光到由三种不同的超导体合金组成的分层晶片上。 展开更多
关键词 半导体合金 近红外光 可见光谱 硅太阳能电池 美国密歇根大学 捕捉 合金组成 科学家
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显示GaAs/AlGaAs缺陷的新方法——超声AB腐蚀 被引量:4
19
作者 陈诺夫 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1992年第12期763-766,共4页
本文提出了一种采用超声 AB腐蚀方法显示 GaAs/AlGaAs单晶缺陷的新方法.该方法可以在自然光环境、常温下显示位错露头、位错线、层错、微沉淀及生长条纹等多种晶体缺陷,分辨率高,腐蚀坑形状规则,操作简便.
关键词 GAAS/ALGAAS 缺陷 超声腐蚀 腐蚀
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窄禁带碲镉汞调制光谱的近期进展和前景(英文) 被引量:8
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作者 邵军 马丽丽 +6 位作者 吕翔 吴俊 李志峰 郭少令 何力 陆卫 褚君浩 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2008年第1期1-6,20,共7页
简要介绍了红外光调制反射谱和调制光致发光谱的最新进展,并重点比较了相对于传统实验方法在信噪比,谱分辨率和实验耗时等方面所取得的显著进展.给出了在MBE生长HgCdTe薄膜样品研究中的应用实例,显示了该技术在光谱研究窄禁带半导体带... 简要介绍了红外光调制反射谱和调制光致发光谱的最新进展,并重点比较了相对于传统实验方法在信噪比,谱分辨率和实验耗时等方面所取得的显著进展.给出了在MBE生长HgCdTe薄膜样品研究中的应用实例,显示了该技术在光谱研究窄禁带半导体带间和低维结构带内跃迁方面的应用前景. 展开更多
关键词 步进扫描傅立叶变换红外光谱仪 红外光调制反射 调制光致发光 信噪比 谱分辨率
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