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光致发光谱测量掺硅AlGaAs中的DX能级
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作者 程兴奎 王卿璞 +5 位作者 马洪磊 V.W.L.Chin T.Osotchan T.L.Tansley M.R.Vaughan g.j.griffiths 《山东大学学报(自然科学版)》 CSCD 1998年第3期357-360,共4页
在调制掺杂GaAs/AlGaAs多量子阱结构的光致发光谱中,靠近强发光峰的低能端存在几个弱峰,且发光强度随温度的增加而变化.这些弱峰是由于掺硅AlGaAs中DX中心上的电子向起受主作用的SiAs原子跃迁复合而引起.由... 在调制掺杂GaAs/AlGaAs多量子阱结构的光致发光谱中,靠近强发光峰的低能端存在几个弱峰,且发光强度随温度的增加而变化.这些弱峰是由于掺硅AlGaAs中DX中心上的电子向起受主作用的SiAs原子跃迁复合而引起.由此确定DX中心有四个能级,其激活能分别为0.35eV,0.37eV,0.39eV和0.41eV. 展开更多
关键词 掺硅 DX能级 光致发光谱 半导体 镓铝砷化合物
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