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一种优化芯片测试时间的方法 被引量：4
1
作者 许梦龙 鲁小妹 赵来钖 《集成电路应用》 2020年第2期39-41,共3页
为了减少芯片测试时间,降低芯片测试成本,介绍一种基于智能卡芯片的测试时间优化的方法。通过分析大生产的测试数据,对测试流程、测试程序以及测试向量进行优化,在保证质量的前提下,对测试项进行优化,提高测试效率,测试时间减少19.623%... 为了减少芯片测试时间,降低芯片测试成本,介绍一种基于智能卡芯片的测试时间优化的方法。通过分析大生产的测试数据,对测试流程、测试程序以及测试向量进行优化,在保证质量的前提下,对测试项进行优化,提高测试效率,测试时间减少19.623%,从而有效降低成本,提高生产能力。 展开更多
关键词 集成电路制造 测试成本 流程优化 芯片测试 自动化测试设备
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AlGaN/GaN HEMT高温特性的研究进展
2
作者 朱修殿 吕长志 +3 位作者 鲁小妹 张小玲 张浩 徐立国 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2006年第1期48-51,共4页
回顾了在高温条件下AlGaN/GaN HEMT器件特性的研究进展。发现2DEG的高温特性是影响器件高温性能的根本内在因素,且外延材料的缺陷、衬底及其器件的封装形式也影响器件的高温特性。最后总结了适合高温下工作的AlGaN/GaN HEMT的改进方法。
关键词 AIGAN/GAN 高电子迁移率晶体管 高温特性 二维电子气
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基于ISE的AlGaN／GaN HEMT的C-V转移特性模拟
3
作者 鲁小妹 吕长志 +3 位作者 张小玲 朱修殿 刘婧 许鸿鹤 《闽江学院学报》 2006年第5期67-69,87,共4页
主要叙述了在ISE软件平台上对AlGaN／GaN HEMT的转移特性以及C—V特性的模拟．首先实现了通过引入δ掺杂层的方法对器件的极化效应的模拟．其次,在此基础上改变了的AlGaN／GaN HEMT中spacer层的厚度,分别模拟了器件的转移特性和C-V特性... 主要叙述了在ISE软件平台上对AlGaN／GaN HEMT的转移特性以及C—V特性的模拟．首先实现了通过引入δ掺杂层的方法对器件的极化效应的模拟．其次,在此基础上改变了的AlGaN／GaN HEMT中spacer层的厚度,分别模拟了器件的转移特性和C-V特性．从结果得知,随着spacer层厚度的增加器件的跨导和电容均有所降低,所以应该在不同的应用领域选择不同的spacer层厚度． 展开更多
关键词 ALGAN/GAN HEMT ISE TCAD SPACER
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基于Perl的测试数据分析自动化工具设计与实现 被引量：1
4
作者 高建新 鲁小妹 邹明洪 《中国集成电路》 2015年第3期47-50,共4页
随着对筛选测试质量的要求越来越高,测试数据量也越来越大,且不同测试机台有不同测试数据格式。面对海量且格式不一的测试数据,测试工程师需要一项项手动提取并整理分析,这使得批量的数据分析工作耗时长、易出错。为了提高测试数据提取... 随着对筛选测试质量的要求越来越高,测试数据量也越来越大,且不同测试机台有不同测试数据格式。面对海量且格式不一的测试数据,测试工程师需要一项项手动提取并整理分析,这使得批量的数据分析工作耗时长、易出错。为了提高测试数据提取分析的效率和准确度,减轻测试工程师的压力,本文设计了一种基于Perl语言的测试数据提取分析自动化工具。该工具可以自动的批量提取整理数据,并标记超限数据,且能根据要求输出统计图形。该工具大大缩短了测试数据整理分析时间,且错误率为0。 展开更多
关键词 PERL 测试数据 自动提取和整理 统计图
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