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剑桥S250扫描电镜控制电路部分故障分析与排除被引量：1: 1; 作者何建平金建灵 +1 位作者崔新发杨启敏《现代仪器》 2000年第6期42-43,共2页; 本文主要简单介绍剑桥S250扫描电镜的控制部分的结构,分析检修方法和常见故障。; 关键词扫描发生器透镜电流扫描电镜故障分析; 下载PDF 职称材料

基于数值模拟的轴承座工艺改进优化被引量：1: 2; 作者袁书仓金建灵汤明健《铸造技术》 CAS 北大核心 2010年第9期1132-1135,共4页; 使用华铸CAE数值模拟软件分析了轴承座铸件出现的缩孔缺陷位置,与生产实践相吻合。运用数值模拟技术,对铸造工艺进行改进和优化,将改进后的铸造工艺应用于生产,既解决了铸造缺陷,又缩短了生产制造周期。同时证明在铸造生产过程中利用CA... 展开更多; 关键词轴承座工艺优化数值模拟; 下载PDF 职称材料

太阳能电池光电转换膜微观结构的高分辨电镜研究被引量：1: 3; 作者方克明金建灵 +1 位作者王国承赵春芳《纳米科技》 2005年第6期50-52,共3页; 文章提出一种把薄膜或多层膜制成用透射电镜可以观察层间结构的样品的新技术。用高分辨电镜研究了太阳能电池Si—SnO2系光电转换膜的微观结构。; 关键词太阳能电池光电转换膜微观结构; 下载PDF 职称材料

磁控溅射制备磁性多层膜中SiO_2/Ta界面的研究被引量：1: 4; 作者于广华王安荣 +1 位作者崔新发金建灵《真空电子技术》 2002年第2期1-4,共4页; 磁性多层膜常用磁控溅射的方法制备,并且以金属Ta做为缓冲层。本研究利用这种方法在单晶硅基片上沉积了Ta/NiFe/Ta薄膜。采用X射线光电子能谱(XPS)对该薄膜进行了深度剖析,并且对获得的Ta 4f和Si 2p的高分辨率XPS谱进行计算机谱图拟合... 展开更多; 关键词磁控溅射 SiO2/Ta界面界面反应 X射线光电子能谱; 下载PDF 职称材料

Nano Indenter Ⅱ纳米显微力学探针被引量：1: 5; 作者林志金建灵 +3 位作者崔新发林均品申亮王小燕《现代仪器》 1999年第5期32-33,共2页; Nano Indenter Ⅱ纳米显微力学探针是我室1994年从美国 Nano Instru-ments公司引起的,目前是国内唯一一台。它是一种新型的材料微区力学性能检测系统,它使我们能够得到距材料表面几纳米至几十微米厚或亚微米范围的力学性能。从而使我们... 展开更多; 关键词力学性能硬度弹性模量力学探针压入系统; 下载PDF 职称材料

剑桥S250系列电镜故障检修: 6; 作者何建平金建灵 +1 位作者崔新发杨启敏《现代仪器使用与维修》 1999年第2期45-47,共3页; 本文概要叙述了剑桥S250系列扫描电镜的维护维修实例,如常见的故障有电源部分故障、真空系统故障、继电器故障、控制单元故障、显示单元故障等等。; 关键词扫描电镜电源真空系统继电器故障检修; 下载PDF 职称材料

APD－10X光衍射仪分析操作系统改造: 7; 作者金建灵崔新发何建萍《冶金设备》 1994年第4期11-13,共3页; 本文应用计算机通讯技术，成功地完成了对ＡＰＤ－１０Ｘ光衍射仪分析操作系统的改造。并开发了ＰＣ计算机对ＡＰＤ－１０分析操作系统的控制。使七十年代末的仪器水平得到提高。; 关键词 X射线衍射仪分析操作系统改造; 原文传递

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