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题名电子元器件可靠性测试与评估分析
被引量：1
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作者
赵臣龙
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机构
俐玛光电科技(北京)有限公司
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出处
《集成电路应用》
2024年第6期50-51,共2页
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文摘
阐述电子元器件可靠性测试与评估方法,包括介绍电子元器件在极端环境下运行、振动与冲击、寿命、电气性能、质量控制的测试技术,以及电子元器件的寿命、加速寿命、加速退化的试验评估。
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关键词
电子元器件
可靠性测试与评估
寿命试验
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Keywords
electronic devices
reliability testing and evaluation
life testing
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
TN406
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题名电子元器件中的半导体材料关键应用及趋势展望
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作者
赵臣龙
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机构
俐玛光电科技(北京)有限公司
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出处
《电子技术（上海）》
2024年第6期280-281,共2页
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文摘
阐述半导体材料在电子元器件中的关键作用,包括半导体材料的物理效应、化学效应、光学效应、电学效应。从半导体材料的应用前景,探讨电子元器件的发展趋势。
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关键词
半导体材料
电子元器件
效应分析
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Keywords
semiconductor materials
electronic components
effect analysis
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分类号
TN0
[电子电信—物理电子学]
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题名电子元器件检测中的问题及其解决方式研究
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作者
赵臣龙
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机构
俐玛光电科技北京有限公司
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出处
《中文科技期刊数据库（文摘版）工程技术》
2024年第1期0191-0194,共4页
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文摘
现代科学技术的进步让电子元器件成为了精密设备的核心,它们如同细胞一般构成了电子设备的基本结构,涵盖通信、医疗等众多领域,极大地丰富了人们的生产与生活方式。每一项科技的跃进都依靠着这些元器件的微小身影,它们让工作的效率倍增,娱乐的方式多元化。因为这些元器件异常精密且高度整合,它们的品质直接决定着最终产品的性能与用户的安全。当产品在使用中出现问题时,往往是由元器件的微小瑕疵所引起。这一点强调了测试这些元器件的重大意义。因此,电子元器件的检测价值不可低估。基于此,本文将首先分析电子元器件检测中的问题,之后提出解决方法。
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关键词
电子元器件检测
问题
解决方式
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分类号
TN606
[电子电信—电路与系统]
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题名电子元器件低频电噪声缺陷检测技术研究
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作者
赵臣龙
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机构
俐玛光电科技(北京)有限公司
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出处
《中国新技术新产品》
2024年第5期38-40,共3页
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文摘
针对现有方法忽视了微弱的噪声缺陷信号、降低了低频电噪声缺陷检测准确性的问题,该文提出一种新型电子元器件低频电噪声缺陷检测技术。首先,完成低频电噪声放大和采集工作,其次,提取电子元器件低频电噪声基本参量,将电子元器件的相关参量提取出来,拟合为噪声频谱及时间信号。最后,检测电子元器件内部散粒噪声,分析电子元器件电阻中导电不连续微粒的电流信号,得到晶体管内的热噪声、白噪声特性,使电子元器件的噪声缺陷检测更全面。利用试验证明所提技术的先进性,试验结果表明,所提技术噪声缺陷检测准确性更高,能够应用于实际生活中。
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关键词
电子元器件
低频电噪声
噪声缺陷
检测技术
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分类号
TP393.08
[自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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