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结构参数对微波射频器件引线键合性能的影响
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作者 李广 薛松 +4 位作者 刘少义 黄建伦 吴文志 王志海 王从思 《电子机械工程》 2024年第6期42-48,55,共8页
作为有源相控阵雷达的关键组成部分,微波射频器件的尺寸与性能决定着雷达探测功能的有效发挥。引线键合是微波射频器件常用的互连技术,随着器件集成度的提高,键合引线的尺寸越来越小,如何保证封装高可靠性是行业亟待解决的问题。文中建... 作为有源相控阵雷达的关键组成部分,微波射频器件的尺寸与性能决定着雷达探测功能的有效发挥。引线键合是微波射频器件常用的互连技术,随着器件集成度的提高,键合引线的尺寸越来越小,如何保证封装高可靠性是行业亟待解决的问题。文中建立了引线键合互连结构的高精度参数化模型,通过热、电仿真和建立的疲劳寿命预测模型,进行了引线半径、拱高、跨距以及平台长度四种结构参数对引线键合工艺的热–力–电多领域分析,并开展了多参数的灵敏度研究。结果表明:四种结构参数会对引线热疲劳寿命和电性能产生不同程度的影响;对热疲劳寿命而言,引线半径的极差值为14.891×10^(5),对热可靠性的影响最大;对插入损耗而言,平台长度的极差值为0.7332,对电性能的影响最大。 展开更多
关键词 引线键合 可靠性 疲劳寿命预测 电性能
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