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一种FPGA的可编程逻辑单元的全覆盖测试方法 被引量:28
1
作者 李平 阮爱武 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第4期857-861,共5页
提出并验证了一种新颖的FPGA中CLB的全覆盖定位测试方法,该方法通过建立基于SOC软硬件协同技术的FPGA自动测试系统,实现了CLB测试所需要的多次下载不同的配置图形,针对每个配置图形进行测试的需求;该方法通过建立规则布局CLB串行移位阵... 提出并验证了一种新颖的FPGA中CLB的全覆盖定位测试方法,该方法通过建立基于SOC软硬件协同技术的FPGA自动测试系统,实现了CLB测试所需要的多次下载不同的配置图形,针对每个配置图形进行测试的需求;该方法通过建立规则布局CLB串行移位阵列为基础形成的FPGA定位配置图形、以及FPGA自动定位算法,实现了对FPGA中所有CLB的全覆盖测试以及错误定位。利用本文提出的方法对Xilinx公司XC4010型号FPGA中所有CLB进行了测试,实验结果表明该方法可以实现FPGA中CLB的全覆盖测试以及错误定位。 展开更多
关键词 软硬件协同验证 FPGA CLB 定位 测试
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SoC软硬件协同技术的FPGA芯片测试新方法 被引量:8
2
作者 李平 +2 位作者 阮爱武 李威 李文昌 《电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第5期716-720,共5页
针对传统的基于纯硬件平台的FPGA芯片测试方法所存在的种种问题,提出并验证了一种基于软硬件协同技术的FPGA芯片测试方法。该方法引入了软件的灵活性与可观测性等软件技术优势,具有存储深度大、可测I/O管脚数目多、自动完成配置下载(不... 针对传统的基于纯硬件平台的FPGA芯片测试方法所存在的种种问题,提出并验证了一种基于软硬件协同技术的FPGA芯片测试方法。该方法引入了软件的灵活性与可观测性等软件技术优势,具有存储深度大、可测I/O管脚数目多、自动完成配置下载(不需人工干预)和自动定位FPGA中的错误等优点,提高了FPGA的测试速度和可靠性,并降低了测试成本,与传统的自动测试仪(ATE)相比有较高的性价比。采用软硬件协同方式针对Xilinx4010的I/O单元进行了测试,实现了对FPGA芯片的自动反复配置、测试和错误定位。 展开更多
关键词 配置 可编辑门阵列 软硬件协同 片上系统 测试
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FPGA中宽边译码器的测试方法研究 被引量:10
3
作者 李平 +2 位作者 阮爱武 李文昌 李威 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第7期1638-1643,共6页
现有的关于FPGA的测试主要集中在可编程逻辑和互连线资源,而没有涉及FPGA中的宽边译码器的测试。本文提出了一种测试FPGA中宽边译码器的方法,该方法实现了FPGA中的宽边译码器的逻辑资源及其相连的长线资源的全覆盖测试。该实验采用Xilin... 现有的关于FPGA的测试主要集中在可编程逻辑和互连线资源,而没有涉及FPGA中的宽边译码器的测试。本文提出了一种测试FPGA中宽边译码器的方法,该方法实现了FPGA中的宽边译码器的逻辑资源及其相连的长线资源的全覆盖测试。该实验采用Xilinx公司的XC4000E系列芯片,在基于SOC软硬件协同技术的FPGA自动测试系统中进行测试。实验结果表明,用本文提出的4次配置图形和测试向量能够完成全覆盖测试。 展开更多
关键词 FPGA 宽边译码器 测试方法 配置图形 测试向量
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基于故障映射的FPGA互连资源故障测试与定位 被引量:5
4
作者 项传银 阮爱武 +2 位作者 李文昌 王林 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第9期2010-2015,共6页
由于FPGA互联资源故障定位是FPGA故障测试的一个难点,尤其需要准确地判断故障的类型和精确地定位故障的位置,因此文中提出一种通过故障映射方法将SRAM型FPGA的互连资源故障映射到LUT的输出上,间接地测试与定位互连资源故障的一种方法。... 由于FPGA互联资源故障定位是FPGA故障测试的一个难点,尤其需要准确地判断故障的类型和精确地定位故障的位置,因此文中提出一种通过故障映射方法将SRAM型FPGA的互连资源故障映射到LUT的输出上,间接地测试与定位互连资源故障的一种方法。同时将故障映射这种方法与传统经典的三次配置测试互连资源方法的核心思想相结合,在高故障率的FP-GA中实现了互连资源的100%故障测试覆盖率,并精确地将故障定位至FPGA互连金属线段或PIP对。该算法采用了最小可重复单元结构,FPGA中被测试资源可以由连续或不连续的任意数量最小可重复单元组成,因此更适合FPGA的重复性结构和FPGA的在线测试。在FPGA的在线全覆盖测试中,该算法的最小迭代测试(ROTE)次数与FPGA的规模无关,只与用户应用电路所占FPGA总资源的比例相关。 展开更多
关键词 FPGA测试 最小可重复单元 故障映射 故障测试与定位
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硫基复合肥副产盐酸制无水氯化钙生产工艺研究
5
作者 白付明 黄平 《化工设计通讯》 CAS 2024年第3期119-121,共3页
氯化钙用途广泛,用量逐年增加,市场前景广阔。介绍了国内外氯化钙的市场、产能情况、产品价格走势,介绍了碱法氯化钙工艺、酸法氯化钙工艺技术以及精制氯化钙工艺,并对氯化钙产品的未来发展进行讨论。
关键词 氯化钙 生产技术 应用与研究
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基于SCE-MI标准的事务级SoC协同仿效平台设计 被引量:2
6
作者 刘凯 李平 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2007年第5期624-627,共4页
讨论并介绍了基于事务的验证方法和SCE-MI标准,提出了一种基于SCE-MI标准的层次化事务级SoC协同仿效平台架构,并给出了该平台的具体实现方案;给出了一个基于该平台搭建的SoC验证环境实例及部分相关实验结果。
关键词 协同验证 SCE-MI标准 事务器 层次化架构 验证平台
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改良剂对培养基理化性质及黑麦草生长特性的影响
7
作者 苟万里 朱忠亮 +2 位作者 田庆容 陈天娇 《山东农业大学学报(自然科学版)》 北大核心 2023年第4期523-529,共7页
为探索培养基改良剂的特性及其对黑麦草生长特性的影响,本文首先以全磷石膏、全营养土和添加了改良剂的磷石膏(改良剂包括稻壳粉、玉米秸杆粉、油菜秸杆粉、煤渣、石英砂等)为基质种植黑麦草,观察其生长表现;然后用稻壳粉和煤渣分别以5... 为探索培养基改良剂的特性及其对黑麦草生长特性的影响,本文首先以全磷石膏、全营养土和添加了改良剂的磷石膏(改良剂包括稻壳粉、玉米秸杆粉、油菜秸杆粉、煤渣、石英砂等)为基质种植黑麦草,观察其生长表现;然后用稻壳粉和煤渣分别以5种比例加入磷石膏(磷石膏:稻壳粉=20:1~60:1,磷石膏:煤渣=3:1~20:1)作为基质并以全营养土、全磷石膏为对照种植黑麦草,分析黑麦草的生长特性和基质的理化指标,评价改良效果。结果表明,添加改良剂后黑麦草的生长表现显著优于全磷石膏组;生长表现最好的两个组分别是磷石膏:稻壳粉(20:1)和磷石膏:稻壳粉(30:1);在一定范围内,稻壳粉添加越多越利于黑麦草生长,煤渣添加越多越不利于黑麦草生长;稻壳粉或煤渣可改善基质的pH、SMC和容重,且用量越大改善效果越明显。因此,稻壳粉是比较理想的磷石膏改良剂,基质的容重、毛管孔隙度及SMC可用于评价磷石膏改良剂的改良效果。 展开更多
关键词 改良剂 基质 黑麦草
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昆阳磷矿极薄矿脉露天开采技术 被引量:4
8
作者 何勤理 王孟来 《现代矿业》 CAS 2021年第4期82-83,86,共3页
为了科学高效地采出昆阳磷矿二采区和四采区东采场出现的大范围厚度在1.0 m以下的极薄矿体,减少矿产资源的损失,充分利用现有开采设备和开采方式,对原露天长壁式采矿方法进行拓展细化,提高资源回收效益。采用矿山自有的Ranger700型潜孔... 为了科学高效地采出昆阳磷矿二采区和四采区东采场出现的大范围厚度在1.0 m以下的极薄矿体,减少矿产资源的损失,充分利用现有开采设备和开采方式,对原露天长壁式采矿方法进行拓展细化,提高资源回收效益。采用矿山自有的Ranger700型潜孔钻机对需要爆破的夹层进行穿孔爆破,对需爆破的矿石采用手风钻穿孔、小药卷装药爆破。根据现场夹层和矿体的厚度变化以及赋存面积大小,采用不同的设备剥离、落矿、集堆、铲装。方案实施后年回收矿石约4.1万t,产生经济效益399.48万元。 展开更多
关键词 极薄矿脉 矿体回收 露天开采
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露天矿内排土场边坡稳定性与内排工艺探讨
9
作者 李树建 +1 位作者 黄杰 袁明礼 《科技视界》 2023年第8期57-60,共4页
为了保证露天矿内排土场在安全的前提下充分实现内排并进行生态修复,文章首先考虑矿体赋存条件和现场工况,对内排工艺和推进方式展开分析,然后从理论的角度引入突变理论对边坡安全条件进行论证。研究结果表明,矿山采用沿倾向追踪采掘工... 为了保证露天矿内排土场在安全的前提下充分实现内排并进行生态修复,文章首先考虑矿体赋存条件和现场工况,对内排工艺和推进方式展开分析,然后从理论的角度引入突变理论对边坡安全条件进行论证。研究结果表明,矿山采用沿倾向追踪采掘工作面推进与沿走向追踪采掘工作面推进相结合的方式进行内排具有较高的技术经济可行性,后期采用生态修复的方式治理边坡,能够取得较好的环境和社会效益。 展开更多
关键词 内排工艺排土场边坡稳定性分析生态修复 露天矿
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露天边坡治理与生态修复关键技术研究与应用
10
作者 徐发伟 《云南化工》 CAS 2023年第4期86-89,共4页
为了实现失稳边坡的治理和生态修复,分析了边坡失稳的原因,提出了各种边坡治理方案并进行了比选,最终采用了削坡减载和反压坡脚的方式实施治理。治理过程削坡范围少,边坡稳定性高,治理范围全部实现生态修复,对露天矿和公路路堑开挖后的... 为了实现失稳边坡的治理和生态修复,分析了边坡失稳的原因,提出了各种边坡治理方案并进行了比选,最终采用了削坡减载和反压坡脚的方式实施治理。治理过程削坡范围少,边坡稳定性高,治理范围全部实现生态修复,对露天矿和公路路堑开挖后的边坡治理具有借鉴意义。 展开更多
关键词 边坡治理 削坡减载 反压坡脚 排水系统 生态修复
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一种新颖的FPGA逻辑故障测试定位方法 被引量:2
11
作者 李文昌 李平 +3 位作者 杨志明 阮爱武 李威 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2011年第5期755-758,共4页
FPGA的生产测试是FPGA设计中非常重要的环节,不仅要求能够检测芯片是否发生故障,还必须进行精确的故障定位,以便设计人员对设计故障和工艺故障进行改进。依靠将CLB输出级联的方式进行故障定位,往往使测试激励在时序设计上变得更加复杂... FPGA的生产测试是FPGA设计中非常重要的环节,不仅要求能够检测芯片是否发生故障,还必须进行精确的故障定位,以便设计人员对设计故障和工艺故障进行改进。依靠将CLB输出级联的方式进行故障定位,往往使测试激励在时序设计上变得更加复杂。灵活利用CLB周围的三态门资源,可以对FPGA逻辑故障进行快速准确的定位,且测试激励简洁。 展开更多
关键词 FPGA 三态门 故障测试 故障定位
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基于Transaction模式的SoC软硬件协同验证策略 被引量:1
12
作者 魏小义 李平 +1 位作者 贾宇明 《陕西理工学院学报(自然科学版)》 2006年第2期42-45,共4页
SoC的验证越来越成为集成电路发展的突出问题,而传统的信号级别的验证方法由于工作量巨大,已经很难满足系统的要求。研究了基于Transaction模式的验证方法,并通过开发的验证平台,用实验进行了验证。该方法在Transaction级别上实现对系... SoC的验证越来越成为集成电路发展的突出问题,而传统的信号级别的验证方法由于工作量巨大,已经很难满足系统的要求。研究了基于Transaction模式的验证方法,并通过开发的验证平台,用实验进行了验证。该方法在Transaction级别上实现对系统的验证,提高了验证速度,可以缩短设计周期,降低设计成本。 展开更多
关键词 Transaction模式 SOC SYSTEMC 验证
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高共模输入电平的迟滞比较器设计 被引量:2
13
作者 鞠家欣 张晋芳 +2 位作者 鲍嘉明 杨兵 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2011年第8期623-626,共4页
提出了一种新颖的基于双极工艺的迟滞比较器,该电路在保持了传统电路的高共模输入电平和低功耗的优点的同时,在电路结构上比传统的电路节省了一级射随器。此外,为了保证该迟滞比较器中两级运算放大器的稳定性还进行了频率补偿的研究,并... 提出了一种新颖的基于双极工艺的迟滞比较器,该电路在保持了传统电路的高共模输入电平和低功耗的优点的同时,在电路结构上比传统的电路节省了一级射随器。此外,为了保证该迟滞比较器中两级运算放大器的稳定性还进行了频率补偿的研究,并对该电路的稳定性进行了仿真,其仿真结果保证了60°的相位裕度。该迟滞比较器的电路使用华润上华1μm双极晶体管工艺实现,芯片测试结果表明,其上阈值点为7.4 V,下阈值点为6.92 V,迟滞电压约为0.48 V,输出高电平约为0.76 V,电路工作稳定。 展开更多
关键词 迟滞比较器 双极工艺 高共模输入电平 低功耗 频率稳定性
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SOC软硬件协同仿效系统的通讯协议设计 被引量:1
14
作者 李平 +3 位作者 阮爱武 李威 李文昌 李辉 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2010年第2期177-181,共5页
通过对EDA软件仿真器与硬件加速平台的数据传输和信息交换方式的研究,提出并实现了SOC软硬件协同仿效系统的通讯协议。该协议实现了逻辑通道复用技术及端口号寻址的数据传输功能。对基于该协议的SOC软硬件协同仿效系统进行测试试验,结... 通过对EDA软件仿真器与硬件加速平台的数据传输和信息交换方式的研究,提出并实现了SOC软硬件协同仿效系统的通讯协议。该协议实现了逻辑通道复用技术及端口号寻址的数据传输功能。对基于该协议的SOC软硬件协同仿效系统进行测试试验,结果表明,该协议实现了EDA软件仿真器与硬件加速平台之间数据实时、准确的交换,达到了EDA软件仿真器与硬件加速平台协同仿效的目的。 展开更多
关键词 软件仿真器 硬件加速平台 软硬件协同仿效 SOC 通讯协议
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源漏不对称的石墨烯场效应管特性研究 被引量:1
15
作者 曾荣周 李平 +1 位作者 张庆伟 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2018年第2期118-121,共4页
石墨烯场效应管(GFET)在栅极和源/漏电极之间存在的不对称的未被栅极覆盖的区域,会引起栅、源和栅、漏电极之间的串联电阻不相等,这将对GFET的性能会产生影响.首次测试了源漏不对称GFET在互换源、漏电极的情况下的输出特性、转移特性和... 石墨烯场效应管(GFET)在栅极和源/漏电极之间存在的不对称的未被栅极覆盖的区域,会引起栅、源和栅、漏电极之间的串联电阻不相等,这将对GFET的性能会产生影响.首次测试了源漏不对称GFET在互换源、漏电极的情况下的输出特性、转移特性和跨导,并采用带源极负反馈电阻的共源极电路模型和石墨烯沟道总电阻计算公式,分析了源漏不对称对器件特性的影响机理.为研制GFET及其他的纳米结构材料晶体管提供了有益的参考. 展开更多
关键词 石墨烯场效应管 源漏不对称 un-gated区域 串联电阻
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针对FPGA优化的高分辨率时间数字转换阵列电路 被引量:1
16
作者 杨洋 阮爱武 +1 位作者 吴文杰 《电子技术应用》 北大核心 2011年第2期42-45,共4页
介绍一种针对FPGA优化的时间数字转换阵列电路。利用FPGA片上锁相环对全局时钟进行倍频与移相,通过时钟状态译码的方法解决了FPGA中延迟的不确定性问题,完成时间数字转换的功能。在Altera公司的FPGA上验证表明,本时间数字转换阵列可达1.... 介绍一种针对FPGA优化的时间数字转换阵列电路。利用FPGA片上锁相环对全局时钟进行倍频与移相,通过时钟状态译码的方法解决了FPGA中延迟的不确定性问题,完成时间数字转换的功能。在Altera公司的FPGA上验证表明,本时间数字转换阵列可达1.73 ns的时间分辨率。转换阵列具有占用资源少,可重用性高,可以作为IP核方便地移植到其他设计中。 展开更多
关键词 时间数字转换 现场可编程门阵列 锁相环 状态译码
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一种新颖的功率集成电路的过流保护设计 被引量:1
17
作者 刘肃 李平 《电力电子技术》 CSCD 北大核心 2006年第5期133-134,共2页
根据热阻与电流的关系,提出一种新颖的功率集成电路的过流保护电路。通过对过流情况下电源电流与结温关系的研究发现,当芯片出现过流情况时,芯片温度会迅速升高,从而导致芯片因过流而失效。基于以上的研究结果提出利用芯片中的过热保护... 根据热阻与电流的关系,提出一种新颖的功率集成电路的过流保护电路。通过对过流情况下电源电流与结温关系的研究发现,当芯片出现过流情况时,芯片温度会迅速升高,从而导致芯片因过流而失效。基于以上的研究结果提出利用芯片中的过热保护电路来实现过流保护,既节省了芯片面积又保证了芯片性能,从而提高了产品的性价比。通过实际测试所设计芯片的数据,证明了本电路设计的合理性。 展开更多
关键词 过流保护 集成电路/热阻
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基于ALU架构的面积优化FIR滤波器设计 被引量:1
18
作者 李平 +2 位作者 阮爱武 李文昌 李威 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2010年第3期358-361,共4页
提出了一种新颖的基于ALU架构的FIR数字滤波器,这种架构采用存储器和计数器实现FIR滤波器的卷积运算。当FIR滤波器的阶数增加时,该架构的逻辑单元基本不变,存储空间仅线性增加,而不像传统分布式架构的存储空间呈指数增加。因此,这种基于... 提出了一种新颖的基于ALU架构的FIR数字滤波器,这种架构采用存储器和计数器实现FIR滤波器的卷积运算。当FIR滤波器的阶数增加时,该架构的逻辑单元基本不变,存储空间仅线性增加,而不像传统分布式架构的存储空间呈指数增加。因此,这种基于ALU架构的FIR数字滤波器的等效逻辑门数大幅减少。FPGA综合结果表明,当FIR滤波器的阶数大于64阶时,基于ALU架构的FIR滤波器比传统分布式架构的滤波器使用更少的等效逻辑门数。 展开更多
关键词 FIR滤波器 ALU FPGA
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FPGA中RAM资源的测试定位算法研究及实现 被引量:1
19
作者 李文昌 李平 +3 位作者 阮爱武 杨志明 李威 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2011年第4期608-611,共4页
在XC4000系列FPGA中,每个CLB的两个四输入查找表都可以被配置成随机存取存储器(RAM),RAM可以为FPGA提供存储大量数据的能力,因此,对RAM的测试是FPGA完备性测试必不可少的部分。根据RAM的结构和功能,提出一种有效的测试方法,并以XC4010E-... 在XC4000系列FPGA中,每个CLB的两个四输入查找表都可以被配置成随机存取存储器(RAM),RAM可以为FPGA提供存储大量数据的能力,因此,对RAM的测试是FPGA完备性测试必不可少的部分。根据RAM的结构和功能,提出一种有效的测试方法,并以XC4010E-PQ160为例,使用SOC软硬件协同验证平台,证明两次配置就可以完成对RAM的全覆盖可定位测试。 展开更多
关键词 随机存取存储器 FPGA 测试定位 软硬件协同验证平台
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带UVLO功能的CMOS零温度系数带隙基准
20
作者 张涛 李伊珂 《电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第S1期118-121,共4页
采用CMOS工艺设计了一种零温度系数的带隙基准与零温度系数欠压闭锁(UVLO)的复用电路。由于这种复用,使其与传统的采用BiCMOS或CMOS工艺设计的电路相比,工艺成本低,易于实现。电路由通过改进的带隙结构产生零温度系数的基准电压,并同时... 采用CMOS工艺设计了一种零温度系数的带隙基准与零温度系数欠压闭锁(UVLO)的复用电路。由于这种复用,使其与传统的采用BiCMOS或CMOS工艺设计的电路相比,工艺成本低,易于实现。电路由通过改进的带隙结构产生零温度系数的基准电压,并同时检测输入电压,产生对温度和工艺不敏感的输入电压检测信号跳变阈值,实现欠压闭锁。同时通过反馈实现迟滞,克服了单一阈值的弱抗干扰能力。 展开更多
关键词 带隙基准 CMOS工艺 温度系数 欠压闭锁
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