薄膜和界面分析的新方法
出处
《光机电信息》
1995年第6期42-42,共1页
OME Information
-
1王凤平,王佩璇,方正知,崔明启,姜晓明,马宏骥.Mo/SiO_2软X射线多层膜反射镜的界面分析[J].金属学报,1997,33(7):737-741. 被引量：1
-
2唐阿友,师勉恭,朱洲森,杨朝文,刘晓东,吴世英,杨百方,缪竟威.用于界面分析的高分辨静电分析器[J].四川大学学报（自然科学版）,1998,35(3):384-386.
-
3陆明,张强基.Ta_2O_5/Ta界面分析的新模型[J].物理学报,1989,38(11):1771-1777.
-
4张瑞君.在线X射线反射率监测系统[J].世界产品与技术,2000(1):59-59.
-
5朱文玉,朱蔚雯.蒙特卡洛方法在双层介质薄膜分析中的应用[J].科技通讯（上海船厂）,1989(4):62-68.
-
6海洋光学NanoCalc系统可实现精确的薄膜分析[J].军民两用技术与产品,2012(10):38-38.
-
7阿尔弗来德.贝宁豪文,查良镇.飞行时间二次离子质谱——强有力的表面、界面和薄膜分析手段[J].真空,2002,39(5):1-14. 被引量：31
-
8居建华,夏义本,桑文斌,王林军,吴汶海,汤定元.碲镉汞衬底上沉积类金刚石薄膜的界面分析[J].红外与毫米波学报,2002,21(3):238-240. 被引量：1
-
9陶琨,骆建,徐育敏.多晶薄膜及表面层的XRD分析方法讨论[J].真空科学与技术,1995,15(5):326-334.
-
10薄膜光学理论与膜系设计[J].中国光学,2004(3):62-64.
;
