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用飞针技术测试BGA

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摘要 本文就使用飞针技术对 BGA 进行测试作一简明的阐述。其中涉及电路板检测、双面多探针、GPIB飞针、边界扫描、光学监控等技术。
出处 《中国集成电路》 2003年第53期76-77,共2页 China lntegrated Circuit
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