拟合法测半值层的缺陷与改进被引量：1

Blemish and improvement on measurement for half value layer with fit method

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摘要在电离辐射计量中 ,X辐射源半值层的检测占有很重要的地位。本文针对检测医用诊断X辐射源中的半值层测量方法及数据处理 ,从理论上分析和实验上证实了拟和法的缺陷因素 ;推荐了两种检测方法。该方法的理论将给修改规范半值层的检测方法提供重要依据。

作者罗泽华

机构地区河南省濮阳市质量技术监督检验测试中心

出处《中国测试技术》 2003年第3期22-22,54,共2页 CHINA MEASUREMENT & TESTING TECHNOLOGY

关键词 X辐射源半值层电离辐射计量拟和法测量方法数据处理

同被引文献6

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中国测试技术

2003年第3期

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