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200MeV电子试验束的概念设计

A conception design of 200MeV electron test beam
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摘要 研究了通过电子与原子核的弹性散射实现每脉冲少电子的试验束方案。测量和分析了由于电子和原子核散射产生的辐射背景。 A feasibility study on a test beam line of the secondary electrons is presented. A few electrons per pulse is able to be obtained by means of the primary 200MeV electron beam from LINAC scattered from the wire target (tungsten).The radiation background at the experimental hall is measured and analyzed.
出处 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2003年第2期121-123,共3页 Nuclear Electronics & Detection Technology
基金 国家自然科学基金59932002资助 211基地建设经费部分资助
关键词 试验束 辐射背景 电子束 test beam radiation background electron beam
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