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用原位腔内清洗提高Al刻蚀的MTBC
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摘要
优化原位腔清洗工艺可延长清洗之间Al刻蚀腔加工时间(MTBC),不损伤清洗腔内部,同时也保持了合理的产额。Cl/O2能非常有效地去除碳基聚合物,而BCl3/Cl最有利于去除Al副产品。通过提高压力得到了顶盖/侧壁清洗均匀性方面最好的改进。实行最佳清洗工艺后,MTBC提高了4倍。
作者
F.Chen
Y.Huang
Q.Ge
H.Ng
机构地区
Applied Materials China
Applied Materials USA
出处
《功能材料与器件学报》
CAS
CSCD
北大核心
2013年第5期252-254,共3页
Journal of Functional Materials and Devices
关键词
Al
MTBC
清洗工艺
均匀性
聚合物薄膜
产额
碳基
半导体器件
淀积
逻辑器件
分类号
TN305.7 [电子电信—物理电子学]
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