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Pt Ir合金中微量硅的分光光度测定 被引量:1

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摘要 1.引言 Pt Ir合金中微量硅的分光光度测定法未见有文献报道。硅的光度测定法多采用硅钼黄法及硅钼蓝法。作者对上述两法的试验研究结果表明,在用于铂铱合金分析时,大量铂(Ⅳ)的黄色及铱(Ⅳ)的棕色离子,严重影响硅钼黄法测硅,故选择硅钼蓝法有利于减小铂(Ⅳ)及铱(Ⅳ)的干扰,且硅钼蓝法的灵敏度也比硅钼黄法的灵敏度高。作者着重研究用还原剂还原铂(Ⅳ)及铱(Ⅳ)的方法,消除了基体铂、铱的干扰,可不经分离直接在铂及铱存在下测定硅。
作者 吴瑞林
出处 《贵金属》 CAS 1985年第4期22-25,29,共5页 Precious Metals
  • 相关文献

同被引文献7

  • 1吴瑞林.电化溶解法在贵金属分析中的应用[J]贵金属,1986(01). 被引量:1
  • 2吴瑞林.贵金属分析中热压分解法的应用[J]分析试验室,1985(04). 被引量:1
  • 3《分析试验室》第二次编辑工作会议在福州市召开[J]分析试验室,1984(03). 被引量:1
  • 4胡鑫弟,康桂芬.高纯铌中痕量钾的化学光谱测定[J]分析试验室,1984(01). 被引量:1
  • 5蔡绍勤,何礼英.气相压力溶样及其在高纯物质分析上的应用[J]稀有金属,1982(04). 被引量:1
  • 6吴瑞林.铂族金属及其合金中痕量金的分光光度测定[J]贵金属,1981(03). 被引量:1
  • 7吴瑞林,丁曼蓉.微波能加热及其在化学分析中的应用[J].分析试验室,1991,10(2):51-54. 被引量:10

引证文献1

二级引证文献4

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