分析抗辐射高压集成电路技术现状与发展

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摘要针对高压集成电路展开有效研究,结合航天事业发展趋势,对高压集成电路实施抗辐射处理,改善高压集成电路运行使用过程中出现的辐射协同效应,维持高压集成电路性能稳定性和功能效果。研究总剂量效应以及单粒子效应在高压集成电路中辐射表现,了解相关高压集成电路辐射的机理和相关加固技术,为抗辐射高压集成电路今后发展提供一定技术支持。

作者晁芬

机构地区江苏省新沂中等专业学校

出处《内江科技》 2024年第10期140-141,共2页

关键词总剂量效应抗辐射单粒子效应性能稳定性协同效应功能效果加固技术发展趋势

分类号 TN40 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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