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干式空心电抗器匝间过电压试验方法研究

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摘要 常规的干式空心电抗器匝间过电压试验方法主要使用VMD(Variational Mode Decomposition)模态分解技术获取过电压特征,该方法易受电抗器并联包封作用影响,导致试验过电压波形不拟合,因此,需设计全新干式空心电抗器匝间过电压试验方法。本文实验结果表明,设计干式空心电抗器匝间过电压试验方法在不同电容下生成的试验过电压波形与标准过电压波形较拟合,证明设计的干式空心电抗器匝间过电压试验方法的试验效果好,有应用价值,可为降低干式空心电抗器匝间故障发生频率作出贡献。
作者 虞晓巍
出处 《消费电子》 2023年第7期55-58,共4页 Consumer Electronics Magazine
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