摘要
近年来,银纳米线在工业中的应用越来越频繁。银纳米线的质量尤为重要,使用普通电子显微镜进行质量评价成本较高,并且需要耗费大量时间和人力。通过银纳米线在特定波长下的紫外可见光谱能够更加快速地检测银纳米线的质量,特别是银纳米线的直径。
In recent years,the application of silver nanowires in industry is more and more frequent.The quality of silver nanowires is particularly important.The cost of quality evaluation by using common electron microscope is high,and it takes a lot of time and manpower.The quality of silver nanowires,especially the diameter of silver nanowires,can be detected more quickly by the ultraviolet-visible spectrum of silver nanowires at a specific wavelength.
作者
赵玮
宣磊磊
张君
赵春宝
ZHAO Wei;XUAN Lei-lei;ZHANG Jun;ZHAO Chun-bao(Nanjing Vocational College of Information Technology,Nanjing 210023,China;Key Laboratory for Soft Chemistry and Functional Materials,Ministry of Education,Nanjing University of Science&Technology,Nanjing 210094,China)
出处
《中小企业管理与科技》
2021年第25期179-181,共3页
Management & Technology of SME
基金
江苏省大学生创新创业训练计划项目成果(项目编号:202013112010Y)
江苏省高等学校自然科学研究面上项目(16KJB430034)
南京信息职业技术学院副高重点基金项目(YK20160301)。
关键词
银纳米线
影响因素
紫外可见分光光度计
扫描电子显微镜
silver nanowires
influencing factors
ultraviolet-visible spectrophotometer
scanning electron microscope
