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4H-SiC MOSFET交流特性的仿真和研究

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摘要 本文通过二维数值模拟,从碳化硅MOSFET的结构中分离出P型和N型结构,同时考虑界面陷阱的影响,研究了SiO_(2)/SiC界面态密度对C/V曲线的影响。
作者 李国鑫
机构地区 上海电力大学
出处 《电子技术与软件工程》 2021年第1期108-110,共3页 ELECTRONIC TECHNOLOGY & SOFTWARE ENGINEERING
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