摘要
本文介绍了系统芯片开发中一种基于IP的集中检查器自动产生方法和具体实现流程。片上系统(SoC-System On Chip)是一种高性能、低功耗、低成本的芯片设计方法。而为了提升了产品的竞争力,各类丰富的IP(Intellectual property)都被集成到SoC中,这给验证工作带来了巨大挑战。笔者从实际验证工作出发,使用该方法简化了验证工作,提高了工作的质量和效率。
出处
《电子技术与软件工程》
2020年第13期57-58,共2页
ELECTRONIC TECHNOLOGY & SOFTWARE ENGINEERING
