摘要
本文用Ar^+,Fe^+,Cl^+,I^+,Na^+和K^+等离子束,在15—30keV能量范围内注入聚乙炔薄膜,剂量为1×10^(13)-3×10^(17)cm^(-2).借助红外光谱、卢瑟福背散射分析及四探针等测试方法,考察了离子注入诱导聚乙炔膜的化学结构及导电性能的变化,检测了化学掺杂与离子注入杂质的深度分布和p-n结的形成,并在此基础上探讨了离子束与聚合物相互作用过程的机理.
出处
《中国科学（B辑）》
CSCD
北大核心
1991年第5期458-463,共6页
Science in China(Series B)
基金
国家自然科学基金
