摘要
介绍了常用的元器件引脚去氧化的方法,针对不同元器件引脚去氧化方法进行工艺试验,对比试验结果,得出各种元器件引脚去氧化方法的最佳工艺参数和适用特点。对电子装联企业元器件引脚去氧化工艺控制有指导作用。
This paper introduces the common methods of pin de oxidation of components, and compares the process test and the comparison test results, and obtains the optimum process parameters and the application characteristics of various components.It has guiding role in the process control of electronic assembly enterprise component pin.
出处
《电脑知识与技术》
2016年第1X期265-267,共3页
Computer Knowledge and Technology
关键词
元器件
引脚
去氧化
components
pin
de oxidation
