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一般性问题
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摘要
TN062 2005030001 一种基于红外热成像技术的星载EPC可靠性状态检测方案研究/李振民,张锐,阴和俊(中国科学院电子学研究所)//电子与信息学报.- 2004,26(3).-410-415 该文针对星载EPC可靠性状态检测问题引入了一种非接触式的红外热成像检测方法.
出处
《中国无线电电子学文摘》
2005年第3期1-1,共1页
关键词
红外热成像技术
状态检测
方案研究
一般性问题
欧氏距离
张锐
试验研究
数理统计理论
外热
数学模型
分类号
TN215 [电子电信—物理电子学]
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