期刊文献+

微波芯片测试夹具设计 被引量:1

下载PDF
导出
摘要 微波芯片在微波领域被广泛应用,为了准确获得其射频参数,需要对其进行测试;而芯片端口一般是非同轴结构,不能通过常用测试仪器(如矢网)直接测量。通过电磁仿真和结构分析,设计了一种测试夹具,该夹具采用同轴转微带结构方案;并制作了相应的校准件,通过TRL校准可将夹具引入的误差消除。经验证,所设计夹具可拆卸性强、重复性好,能完成后续的校准和测试。
出处 《机电技术》 2018年第3期46-48,共3页 Mechanical & Electrical Technology
  • 相关文献

参考文献2

二级参考文献5

  • 1ENGEN G F,HOER C A.Thru-reflect-line:an improved technique for calibrating the dual six-port automatic network analyzer[J].IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques,1979,27(12):987-993. 被引量:1
  • 2WILLIAMS D F,WANG C M,ARZ U.An optimal muhiline TRL calibration algorithm[J].IEEE MTT-S Digest,2003,1819-1822. 被引量:1
  • 3Anritsu vector network measurement system operation manual[K].1998:7.3-7.34 被引量:1
  • 4Applied wave research,Inc.MWO/VSS getting started guide[K].Version 6.51,2005. 被引量:1
  • 5王红欣,杨瑞霞,李书科.管芯S参数的提取技术[J].电子器件,2004,27(1):180-183. 被引量:2

共引文献4

同被引文献11

引证文献1

二级引证文献1

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部