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浅论齿轮副侧隙的计算校核及加工中的控制检验 被引量:3

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摘要 本文介绍了影响齿轮副侧隙的几种因素及其计算方法,并将侧隙通过计算换算成齿厚偏差,并用圆整后齿厚偏差反算出齿轮副的侧隙,以校核其是否满足设计及使用要求。最后介绍了一种将齿厚偏差转换成公法线偏差的方法,便于加工中的控制及检验。
出处 《中国新技术新产品》 2017年第15期46-47,共2页 New Technology & New Products of China
  • 相关文献

参考文献1

  • 1李华敏等编著..渐开线齿轮的几何原理与计算[M].北京:机械工业出版社,1985:339.

同被引文献7

引证文献3

二级引证文献2

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