摘要
介绍了扫描开尔文探针(SKP)和局部电化学阻抗谱(LEIS)两种先进的微区电化学测量技术的原理和优点以及目前主要的应用领域,综述了两种技术在缝隙腐蚀、点蚀和孔蚀、微生物菌腐蚀以及其他类型腐蚀研究中的应用进展。结果表明,两种测量技术对宏观的电化学测量技术有着很好的补充和完善作用。展望了两种技术的未来发展趋势。
出处
《材料保护》
CAS
CSCD
北大核心
2016年第12期64-68,共5页
Materials Protection
基金
国家自然科学基金项目(51304259
51254001)
重庆科技学院研究生科技创新项目(YKJCX2014029)资助
关键词
SKP
LEIS
缝隙腐蚀
点蚀
孔蚀
微生物腐蚀
scanning Kelvin probe
local electrochemical impedance spectroscopy
crevice corrosion
pitting corrosion
hole corrosion
microorganism corrosion
