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交流电晕老化对复合绝缘子体积电阻率-温度特性的影响 被引量:15

Characteristics of Volume-resistivity and Temperature Under AC Corona for Composite Insulators
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摘要 硅橡胶材料作为复合绝缘子外绝缘基材,其体积电阻率和温度之间存在一定关系,老化可能会对这一特性产生影响。为此以硅橡胶基材作为研究对象,对试样进行不同时间的交流电晕老化,并利用研制的体积电阻率测试系统进行不同温度下的体积电阻率测试。同时结合傅里叶红外光谱(FTIR)和X射线光电子能谱(XPS)分析,探究了交流电晕老化对复合绝缘子的体积电阻率-温度特性(1nρv-1/T)的影响,并以此定性评估试样受电晕老化程度。试验结果表明:随着交流电晕老化时间的增加,复合绝缘子材料的1nρv-1/T线性相关度逐渐降低,且低温区域范围内(293~313K)此种变化更为显著,所受电晕老化程度加深;交流电晕作用导致材料表层Si-O键小分子的大量生成,对内层也产生一定程度破坏,这些小分子影响了低温区段下材料的体积电阻率特性;随着温度的升高,高分子链段运动加剧且材料内部运动空间扩大使得高分子作用重新主导导电机理,线性关系恢复。 Silicon rubber is the external insulation base material of composite insulator. A relationship between vol- ume-resistivity and temperature may exists in virgin composite insulators, and may be affected by aging. Therefore,we tool silicon rubber as an object to investigate AC corona for different duration. Then volume resistivity in different tem- peratures was measured by the self-developed system to investigate volume resistivity and temperature characteristics (lnρv -1/T) of composite insulators. Experimental results show that, with the prolonging of AC corona, the linear correla- tion begins to deteriorate, particularly in low temperature area. With the combination of Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FTIR) and X-ray Photoelectron Spectroscopy(XPS) test, the material surface will emerge large amount of micro molecule containing Si-O bound and the inner part of the insulator suffers less,influencing the volume resistivity and temperature characteristics. When temperature rises, linear property recovers to some extent due to the influences of movement of polymer chain segment and enlargement of movement volume.
出处 《高电压技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第12期3875-3880,共6页 High Voltage Engineering
基金 国家自然科学基金(51207055) 河北自然科学基金(E2013502213)~~
关键词 硅橡胶 复合绝缘子 体积电阻率-温度 交流电晕老化 线性相关度 FTIR XPS silicon robber composite insulators volume-resistivity AC corona aging linear correlation FTIR XPS
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