全回路电阻测试方法在10kV-35kV高压开关柜试验中的应用探讨被引量：3

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摘要开关柜内设备过热严重影响电力系统的运行,本文对开关柜内一次设备产生过热原因进行分析,并基于单个设备直流电阻测试,提出在10k V-35k V高压开关柜试验中应用全回路电阻测试,从而对全回路内一次设备接触情况进行判断,找出导致过热的原因。

作者李德荣

机构地区国网山东省电力公司汶上县供电公司

出处《电子制作》 2016年第8期40-41,共2页 Practical Electronics

关键词全回路电阻测试方法高压开关柜试验

分类号 TM591 [电气工程—电器]

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