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SITRI牵手NI引领国内射频及微波芯片测试技术研发

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摘要上海微技术工业研究院（SITRI）宣布与美国国家仪器公司（NI）签署合作，联合成立“射频及微波芯片（RFIC／MMIC）测试技术联合实验室”，通过与在该领域测试技术拥有深厚积淀的NI合作，进一步提升上海微技术工研院的研发能力，引领我国RFIC／MMIC测试技术迈向国际化水平。

出处《中国集成电路》 2016年第3期9-10,共2页 China lntegrated Circuit

关键词测试技术研发能力芯片微波射频 NI 美国国家仪器公司国内

分类号 TN43 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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中国集成电路

2016年第3期

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