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X射线荧光光谱分析测试技术在地学中的应用
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摘要
X射线荧光光谱分析方法是一种成熟的成分分析技术,具备多元素同时测定、含量范围宽、精密度高、分析速度快等特点,在地质领域中被广泛应用。本文主要对近年来x射线荧光光谱分析在地学中主要的应用进行了综述。
作者
吕金梁
机构地区
长安大学地球科学与资源学院
出处
《科教导刊(电子版)》
2016年第3期173-173,共1页
The Guide of Science & Education (Electronic Edition)
关键词
X射线荧光光谱分析
地学
应用
分类号
P575 [天文地球—矿物学]
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