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基于专利的氧化锌宽禁带半导体材料技术中外比较 被引量:3

Comparison of Zinc Oxide Wide Band Gap Semiconductor Material Technology in China and Foreign Countries Based on the Patent
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摘要 利用专利对氧化锌宽禁带半导体材料技术的研发实力、技术领域、专利原创性和普遍性态势进行中外比较,根据主要竞争国家的综合竞争地位分析,发现我国该领域技术研发中的问题。研究表明尽管我国的专利增长率不断提高,但高质量专利较少,研发机构竞争实力不足,属于技术相对落后者。最后利用SWOT分析对提高氧化锌宽禁带半导体技术的创新水平给出相应的建议。 Using patent analysis, this paper compares zinc oxide wide band gap semiconductor material industry in China and foreign countries from R&D strength, technical field, patent originality and generality. According to the analysis of comprehensive competition sta- tus of main countries, we found some problems in China: China's patent growth rate will continue to improve, but the technology is rela- tive backward with less high quality patents and lower competitiveness in R&D institutions. At last, based on a SWOT analysis conducted, some to enhance the innovation of the industry in question are given.
出处 《情报杂志》 CSSCI 北大核心 2015年第11期62-68,149,共8页 Journal of Intelligence
基金 国家社会科学基金重大项目"新兴技术未来分析理论方法与产业创新研究"(编号:11&ZD140)
关键词 氧化锌 宽禁带半导体材料 专利分析 中外比较 zinc oxide wide band gap semiconductor material patent analysis contrastive analysis
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