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功率半导体器件间隔脉冲IV测试方法研究 被引量:1

Research on Test Method for Interval Pulse IV of Power Semiconductor Devices
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摘要 通过认真分析研究点测试法测量原理,突破脉冲阶梯电流源等多项研制难点,研制了间隔脉冲IV测试法验证装置,对间隔脉冲IV测试法脉冲宽度、间隔时间等参数具体量值进行校准,确保验证装置测量准确性,在验证基础上,编制了《功率半导体器件间隔脉冲IV测试方法草案》。 This paper did carefully research on the principle of point test method, and the pulse step current source was developed out. Verification system was developed to identify the pulse width and interval time of Interval pulse IV test method. The specification of this system is vivificated through evaluating the uncertainties of the system. The basis of compiling Protocol of test method for interval pulse IV of power semiconductor devices is fulfilled.
作者 李洁 刘冲
出处 《装备制造技术》 2015年第9期205-208,共4页 Equipment Manufacturing Technology
关键词 间隔脉冲IV测试法 验证装置 草案 interval pulse test method double input state space equation
  • 相关文献

参考文献1

  • 1刘冲,李洁.功率半导体器件直流参数测试设备校准技术研究国防科学技术报告[R].北京:工业和信息化部电子工业标准化研究院,2013. 被引量:1

同被引文献1

引证文献1

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