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中科大实现高精度量子态成像和操控

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摘要 中科院院士、中国科学技术大学教授郭光灿领导的中科院量子信息重点实验室孙方稳研究组利用光学超分辨成像技术实现了对单个自旋态的纳米量级空间分辨率测量和操控,其成像精度达到4.1纳米,研究成果日前发表在《自然》子刊《光:科学与应用》上。
出处 《纳米科技》 2015年第1期88-88,共1页
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