摘要
研究时延测试 (应用 )中的功耗问题 ,提出一种降低时延测试功耗的测试向量排序方法 .该方法利用时延测试向量对之间的海明距离为测试向量对排序 .实验研究表明 :在不降低时延故障覆盖率的前提下 ,测试功耗平均降低 90 %
Re ordering the test pairs in the test sequences is introduced to minimize the switching activity of the circuit under test during test application. Hamming distance between test pairs is used to guide their re ordering. This guarantees a decrease in power dissipation without reducing the delay fault coverage. Experimental results are presented to demonstrate a 90% average reduction of the circuit activity for the test application.
出处
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2002年第8期738-742,共5页
Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics
基金
国家"八六三"高技术研究发展计划 ( 2 0 0 1A A1110 70 )
国家自然科学基金 ( 6 9976 0 0 2
6 97330 10 )资助
