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ZnO压敏电阻的化学蜕变

Chemical Degradation in ZnO-based Varistors
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摘要 ZnO压敏电阻在0.05 mol/L NaOH的电解液中作直流电解处理后,出现化学蜕变,漏电流增加、非线性特性减弱,经热处理后其压敏特性又可恢复。它与通常的电学蜕变不同,经论证认为,这种蜕变是属于氢原子在瓷体晶粒边界附近中的还原作用所致。文中还讨论了其可能的蜕变机理。 ZnO varistors being placed in a 0.05 mol/L NaOH solution to be DC electrolyzed can lead to increased leakage current, weakened nonlinear characteristic and other degradation phenomena. After heat treatment at 650℃, its characteristic can be recovered. The mechanism is different from conventional electrical degradation. It is proved that it is the hydrogen atoms produce reduction reaction round the grain boundaries of the ceramics. The possible degradation mechanism is also discussed.
出处 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2002年第4期12-14,共3页 Electronic Components And Materials
关键词 压敏电阻 化学蜕变 蜕变机理 氢还原 varistors chemical degradation degradation mechanism reduction with hydrogen
  • 相关文献

参考文献3

二级参考文献4

  • 1Chen Wanping,J Am Ceram Soc,1998年,81卷,10期,2751页 被引量:1
  • 2Chen Wanping,J Mater Sci Lett,1998年,17卷,899页 被引量:1
  • 3Chen Wanping,J Mater Res,1997年,12卷,4期,877页 被引量:1
  • 4Li Biaorong,J Appl Phys,1987年,62卷,11期,4629页 被引量:1

共引文献4

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