摘要
本文介绍了X射线荧光光谱法分析钛合金中铝、铌、钼、钨、钒、镍、铒、锰、锆,α系数校正基体效应。样品酸溶后灼烧转化成氧化物,四硼酸锂熔融制样。利用NBSGSC程序计算熔融片体系的理论α系数,输入PW1404X射线荧光光谱仪X40软件内,采用D-J校正模式准确计算出经基体效应校正后各元素的浓度,相对均方偏差小于1%。本方法适用于成份及含量多变的钛合金材料的分析,也适用于大量生产的几种钛合金材料(TC1,TC2,TC3,TC4,TC11)的分析。
出处
《稀有金属材料与工程》
SCIE
EI
CAS
CSCD
1991年第3期65-69,共5页
Rare Metal Materials and Engineering
