摘要
为了找到制备CuPc ZnS多层复合膜薄膜最佳光电导性能的参数 ,本文研究了CuPc ZnS多层复合膜的CuPc膜层的厚度系列、ZnS膜层的厚度系列的光电导性能和结构 ,利用表面电位衰减仪、紫外 -可见光谱仪和X射线衍射仪等设备分析了复合薄膜的光电导性能和结构及其关系 ,探讨了改变CuPc、ZnS膜层的厚度对CuPc
CuPc/ZnS multilayer films about the different thickness of CuPc film and ZnS film are studied in this paper.The influence of the thickness of CuPc and ZnS film to the photoconductivity and structure was investigated.The relation between the photoconductivity and structure is discussed by using the photoconductivity test apparatus,U\|V visible absorption spectrum and XRD.
出处
《材料科学与工程》
CSCD
北大核心
2001年第2期51-54,共4页
Materials Science and Engineering
基金
国家自然科学基金资助项目 !(69890 2 3 0 )
(60 0 0 60 0 3 0 )
浙江省自然科学基金资助项目
