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集成运算放大器受辐射效应的研究
Numerical Simulation of Electron Cyclotron Resonance Plasma Characteristics
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摘要
研究了集成运算放大器在γ辐射环境下的效应.发现经受一定剂量的γ辐射后,双极型集成运算放大器的Vio、Iio、IB+、IB-等电参数明显增大,放大系数减小,停止辐射并经历一定条件的退火处理,这些电参数可以基本恢复.斩波式自动稳零型CMOS集成运算放大器抗γ辐射能力较强.集成运算放大器受γ辐射效应主要是电离损伤.
作者
邹慰亲
陈愿
徐扬子
黄学雄
机构地区
广东民族学院电子工程系
出处
《广东民族学院学报》
1996年第4期106-109,共4页
关键词
集成运算放大器
Γ辐射
退火
电离损伤
辐射效应
电参数
放大系数
electron cyclotron resonance, particle ions, fluid electron
分类号
TN722.77 [电子电信—电路与系统]
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广东民族学院学报
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