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集成运算放大器受辐射效应的研究

Numerical Simulation of Electron Cyclotron Resonance Plasma Characteristics
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摘要 研究了集成运算放大器在γ辐射环境下的效应.发现经受一定剂量的γ辐射后,双极型集成运算放大器的Vio、Iio、IB+、IB-等电参数明显增大,放大系数减小,停止辐射并经历一定条件的退火处理,这些电参数可以基本恢复.斩波式自动稳零型CMOS集成运算放大器抗γ辐射能力较强.集成运算放大器受γ辐射效应主要是电离损伤.
出处 《广东民族学院学报》 1996年第4期106-109,共4页
关键词 集成运算放大器 Γ辐射 退火 电离损伤 辐射效应 电参数 放大系数 electron cyclotron resonance, particle ions, fluid electron
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