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低补偿度n-Hg_(1-x)Cd_xTe的弱局域效应 被引量:1

Weak Localizatinn of Low Compensated n-Hg_(1-x)Cd_xTe
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摘要 本文在多次实验中选择的低补偿度n-Hg1—xCdxTe样品上测量了0—10mT弱磁场范围的横向磁阻和纵向磁阻,观测到了三维电子系统中弱局域导致的负磁阻修正效应.初步讨论了样品尺寸、磁场与电流的相对取向以及温度对弱局域效应的影响.
出处 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第4期263-267,共5页 半导体学报(英文版)
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