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衍射条纹CCD拟合定位方法及其精度分析
被引量:
13
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摘要
衍射条纹CCD拟合定位方法及其精度分析张广军(北京航空航天大学)0引言电荷耦合器件CCD是70年代发展起来的新型光电器件,它以其线性好、体积小、功耗低、响应速度快及空间分辨率高等优点,已在光衍射测试技术中作为衍射条纹的探测器件而得到了广泛应用。利用C...
作者
张广军
机构地区
北京航空航天大学
出处
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1995年第1期107-109,91,共4页
Chinese Journal of Scientific Instrument
关键词
电荷耦合器件
CCD
衍射条纹定位
衍射测试技术
分类号
TN386.5 [电子电信—物理电子学]
O436.1 [机械工程—光学工程]
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仪器仪表学报
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