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Si/Si_(1-x)Ge_x HEMT异质结层的结构与二维电子气密度的关系

Relation of heterojunction structure of Si/Si_(1-x)Ge_x HEMT and 2DEG density
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摘要 从晶格匹配及能带阶跃角度讨论了设计一个 n沟 Si/Si1-x Gex HEMT异质结层的原理及方法 ,对 K.Ismail器件进行了分析和计算 ,所得 2 DEG的 ns与实验结果基本相符 ,并利用该设计理论对 K. Ismail器件的异质结结构进行了优化改进 ,提高了器件 2 DEG的 ns。 The principle and method of designing n Si/Si 1- x Ge x HEMT heterojunction from the lattice match and the energy band discontinuity points has discussed in this paper,the HEMT repor ted by K.Ismail has analysed,and obtained 2DEG density n s essentially according with the experiment data,final the design of the heterojunction of K.Ismails HEMT is improved to get a higher 2DEG density n s.
出处 《半导体情报》 2001年第2期46-49,共4页 Semiconductor Information
关键词 半导体异质结 晶格匹配 能带阶跃 结构设计 二维电子气密度 晶体管 HEMT Zhe化硅 semiconductor heterojunction lattice match energy band discontinuity structure design 2DEG density
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参考文献2

二级参考文献1

  • 1Lin T L,Appl Phys Lett,1990年,57卷,1422页 被引量:1

共引文献1

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