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提高单片机设计硬件可靠性的一般方法 被引量:3

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摘要 分析了影响单片机测控系统可靠性的因素及应采取的措施。
作者 李永亮
出处 《现代电子技术》 2001年第4期72-73,共2页 Modern Electronics Technique
  • 相关文献

参考文献2

  • 1广军.实用接口技术.西安电子科技大学出版社,1997 被引量:1
  • 2毛楠,孙瑛编著..电子电路抗干扰实用技术[M].北京:国防工业出版社,1996:358.

同被引文献8

引证文献3

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