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游离二氧化硅含量的X线衍射测定计算方法 被引量:1

Study on the Determination in Micro Amounts of Free SiO_2 in Respirable Dust in the Air of Workplace by a Method for XRD
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摘要 采用 X线衍射法 ,测定了生产环境中微量 ( 0 .1~ 5mg)呼吸性粉尘中游离二氧化硅的含量 .相对误差小于 10 % 。 The study designed to determine free SiO\-2 in micro amounts (0.1~5 mg) of respirable dust.A method for X\|ray diffraction is carried out. The relative errors are below 10 %.The accuracy of the proposed meets the requirement of routine micro amounts .The study demonstrated that X\|ray diffraction is a accurate, convenient and speed\|up method to measure free SiO\-2 in airborne collected by filter membrane.
作者 田凡
出处 《中南民族学院学报(自然科学版)》 2001年第1期91-94,共4页 Journal of South-Central University for Nationalities(Natural Sciences)
基金 国家劳动部 财政部重点课题资助项目!(项目编号 L- 95- 36)
关键词 结晶型游离α-石英 呼吸性粉尘 X线衍射法 相对误差 生产环境 二氧化硅 含量测定 free crystalline α\|quartz respirable dust method for XRD relative error
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共引文献7

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