期刊文献+

数字超大规模集成电路中的噪声分析与研究 被引量:6

ANALYSIS AND STUDY ON THE NOISES IN DIGITAL VISI CIRCUITS
下载PDF
导出
摘要 指出了半导体器件中存在的噪声及其特点 ,并针对当今数字 VLSI(VeryLarge Scale Integrated—超大规模集成 )电路的特点 ,通过计算 ,分析和讨论了各种噪声对数字 VLSI电路造成的影响 .特别指出了随着现代数字 VLSI电路的元器件几何尺寸进一步缩小 ,其内部噪声的影响趋于显著 . In this paper, it have been pointed out that the noises in semiconductor devices and their properties, and analyzed and discussed that various noises affecting on digital VLSI circuit through computing in connection to the characteristics of modern digital VLSI circuits. As the geometric sizes of the components and devices in modern digital VLSI circuits are especially reduced further, the noise influence on the VLSI circuits tends to be remarkable.
作者 陈江华
出处 《山东工业大学学报》 2000年第4期367-372,共6页
关键词 超大规模集成电路 白噪声 热噪声 散粒噪声 G-R噪声 1/F噪声 Very Large Scale Integrated circuits White noise /Thermal noise g r noise (generation recombination noise) Shot noise 1/f noise
  • 相关文献

参考文献6

  • 1庄奕琪,孙青编著..半导体器件中的噪声及其低噪声化技术[M].北京:国防工业出版社,1993:223.
  • 2郑崇勋著..数字系统故障对策与可靠性技术[M].北京:国防工业出版社,1995:380.
  • 3浙江大学半导体教研室.晶体管原理[M].北京:国防工业出版社,1980.255-268. 被引量:2
  • 4郑崇勋,数字系统故障对策可靠性技术,1995年,173页 被引量:1
  • 5庄奕琪,半导体器件中的噪声及其低噪声化技术,1993年,20页 被引量:1
  • 6浙江大学半导体教研室,晶体管原理,1980年,255页 被引量:1

共引文献1

同被引文献41

引证文献6

二级引证文献43

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部