摘要
文章提出了一种 VLSI使用寿命的实用估计方法，该方法充分考虑了工作环境和工作条件对集成电路寿命的影响，使估计结果更切合实际。
A practically estimating method for VLSI using life is proposed in this paper. It totally considers the effects of operating environments and conditions to IC using life. The estimating result is more practical.
出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2000年第5期42-44,共3页
Microelectronics & Computer
